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工作在中波紅外及長波紅外波段的紅外熱像儀在國家國防及安全部門具有重要的作用，對于紅外熱像儀的生產商，維修單位，科研院所以及最終用戶等而言，紅外熱像儀的測試具有重要的意義。因此高技術的測試系統可以在生產，維修，培訓，選型，科研等方面提供重要的幫助。

Inframet提供一系列不同版本的DT系統是受歡迎的紅外熱成像儀測試系統儀。 它可以用于實驗室/倉庫條件下的測試，非常適用于國際市場上提供的所有監控類型的紅外熱像儀，以及用于空間應用的長焦紅外熱成像儀。 DT系統可以測量所有重要參數，其采用垂直配置布局（黑體和靶輪位于平行光管的垂直方向的正上方），垂直化布局設計形成了高均勻性的熱輻射投影系統且使得整套系統更加緊湊。

INFRAMET還提供用于測試紅外熱像儀的其他系統：TAIM,TFEV, SIM, DTR, TCLIP, LAFT, WAP. SAFT。

TAIM是一套特殊版本的DT系統，主要用于測試紅外瞄準系統；

TFEV測溫儀測試系統是模塊化的專業測試系統，專門為發熱篩查測溫儀而優化。

SIM是一套相對簡單且低成本的測試系統，主要實現紅外熱像儀的聚焦和分辨率測量。 SIM可以被視為一個簡化版的DT系統。 DT和SIM都是固定式系統，主要用于實驗室/倉庫條件下測試。

DTR是一套可以看做為使用了透射式平行光管的DT測試系統的版本，主要用于測試寬視場紅外熱成像儀。

TCLIP是一套紅外瞄準鏡快速軸對準測試系統。

LAFT是一套移動測試站，主要用于在野外/倉庫條件下工作的監控型紅外熱像儀基本參數測試儀。

WAP是一套便攜式廣角投影系統，設計于測試寬視場的紅外成像儀。 其小尺寸設計和輕質量結合是該系統的巨大優勢。

SAFT是一套小型測試系統，主要用于測試短焦距的紅外熱像儀。 

非均勻性校準

所有紅外熱成像儀均必須經過工廠校準，以生成非均勻性補償（NUC）系數，然后由紅外熱像儀實時自動運算以保持良好的圖像質量。 NUC系數通常基于大面積黑體的圖像來計算，該黑體在兩種溫度下來充滿被測試紅外熱像儀的視場：1）高溫在約60℃至約120℃的范圍內，并取決于紅外熱成像儀的類型。2）實驗室環境溫度（有時略微增加到約等于圖像傳感器溫度）。

Inframet提供DAP雙黑體作為紅外熱成像儀非均勻性校準的低成本高效益解決方案。 DAP雙黑體實際上是一組兩個黑體：通常在高溫下操作的TCB黑體和在接近環境溫度下操作的PBB黑體。 以這種方式，DAP相當于兩個黑體，通常使用兩點NUC，但成本僅略高于典型的TCB黑體。 同時，實現了DAP黑體的兩個發射器之間的超高精度溫差。