PSS Nicomp380ZLS-CS 納米粒度及電位分析儀

?型號：PSS Nicomp380ZLS-CS 納米粒度及電位分析儀??

 NICOMP 380 系列是專門用于測量納米級顆粒以及膠體樣品體 系的粒徑分析儀器，其測量范圍為 0.3 nm - 6 μm。NICOMP 380 已經成為眾多研究人員和上眾多科學家的。儀器所擁有*的基線調整自動補償能力和高分辨率多模式算法，多年來不 同領域的使用證明了它可以區分開單峰樣本體系和無約束復雜多峰 樣本體系，是研發的有利助手！

?產品優勢
 
寬廣的動態檢測范圍                 0.3 nm ---- 6 μm

?ZETA電位                           +/- 500mV

的精密測試                       無需校準
各種代表性樣品                       檢測速度快
靈敏度高                                 對團聚粒子靈敏度高(D6 )
分析函數                                 模擬研究粒度分析
復合型算法                             高斯單峰算法與 NICOMP 多峰算法
模塊化設計                             可同機搭載測試 ZETA 電勢電位模塊， 還可增加自動稀釋和自動滴定等輔助                                                   測試模塊，功能，使用便捷。?

技術參數