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一、tt260涂層測厚儀價格符合以下標準： 
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法 
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 
JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》 
JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》 

二、tt260涂層測厚儀價格特點： 
1、采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度； 
2、可使用 7 種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1) 
3、具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）； 
4、具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)； 
5、設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、
標準偏差（S．DEV）； 
6、可采用兩種方法對儀器進行校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正； 
7、具有存貯功能：可存貯 495 個測量值； 
8、具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量； 
9、可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析； 
10、具有打印功能：可打印測量值、統計值、限界、直方圖； 
11、具有與 PC 機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至 PC 機，以便對數據進行進一步處理； 
12、具有電源欠壓指示功能； 
13、操作過程有蜂鳴聲提示； 
14、具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示； 
15、設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式； 

三 測量原理 
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合 概述 金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 
a) 磁性法(F 型測頭) 
 當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。 
b) 渦流法(N 型測頭) 
 利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產 生電渦流，并對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。 

四、儀器的校準 
為使測量準確，應在測量場所對儀器進行校準。 
3.1 校準標準片（包括箔和基體） 
 已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。 
a) 校準箔 
對于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適。 
b) 有覆蓋層的標準片 
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于磁性方法， 覆蓋層是非磁性的。對于渦流方法，覆蓋層是非導電的。

3.2 基體 
a) 對于磁性方法，標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與待測試件基體金屬的電性質相似。為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數進行比較。 
b) 如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準： 
1) 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準； 
2) 用一足夠厚度的，電學性質相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。 
c) 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。

3.3 校準方法 
本儀器有三種測量中使用校準方法: 零點校準、二點校準、在噴沙表面上校準。二點校準法又分一試片法和二試片法。還有一種針對測頭的基本校準。本儀器的校準方法是非常簡單的。 

3.3.1 零點校準 
適用于除 CN02 外的所有的測頭。 
a) 在基體上進行一次測量，屏幕顯示＜×.×µm＞。 
b) 按 ZERO 鍵，屏顯<0.0>。校準已完成，可以開始測量了。 
c) 重復上述 a、b 步驟可獲得更為精確的零點，高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。 
3.3.2 二點校準 
3.3.2.1 一試片法 
適用于除 CN02 外的所有測頭。這一校準法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。 
a) 先校零點（如上述）。 
b) 在厚度大致等于預計的待測覆蓋層厚度的標準片上進行一次測量，屏幕顯示＜×××µm＞。 
c) 用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準值。校準已完成，可以開始測量了。 

3.3.2.2 二試片法 
 適用于除 CN02 外的所有測頭。兩個標準片厚度至少相差三倍。待測覆蓋層厚度應該在兩個校準值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測量。 
a) 先校零值。 
b) 在較薄的標準片上進行一次測量，用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準值。 
c) 緊接著在厚的一個樣片上進行一次測量，用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準值。校準已完成，可以開始測量了。 

3.3.2.3 在噴沙表面上校準 
 噴沙表面的特性導致了測量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。 

方法一： 
a) 儀器要用 3.3.1 或 3.3.2.1 的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準好。 
b) 在未涂覆的經過同樣噴沙處理的表面測量 10 次左右，得到平均值 Mo。 
c) 然后，在已涂覆的表面上測量 10 次得到平均值 Mm。 
d) （Mm—Mo）±S 即是覆蓋層厚度。 
其中 S（標準偏差）是 SMm和 SMo 中較大的一個。 
方法二： 
a) 用直接方式下的單次測量法測量。 
b) 先用兩試片法校準儀器。 
c) 在試樣上測量 5～10 次。按 STATS 鍵，統計值中的平均值即是覆層厚度。 
3.3.2.4 銅上鍍鉻層的校準方法 
適用于 N1 測頭，并使用特殊的校準標準片。（去掉 N400、N1/90°） 
 ⊙必須使用一試片法。 
 ⊙使用標有“銅上鍍鉻” (CHROME ON COPPER) 字樣的特殊標準片。 
3.3.2.5 CN02 測頭的校準方法 
CN02 是一種平展的測頭，僅適用于測量平滑表面的銅板或銅箔的厚度。 
a) 開機后，將 CN02 測頭平穩地放在隨機配帶的 5.0mm 銅塊上，按 ZERO 鍵，屏幕顯示“OO”； 
b) 在標準片上進行一次測量； 
c) 用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準值。校準已完成，可以開始測量。 
d) 測量雙面覆銅板需用雙面敷銅標準片校準。 

3.3.3 修改組 FX中的校準值 
刪除組單元中的所有數據和校準值之后才能重新校準。否則將出現 E20 錯誤代碼和鳴響報警。更換測頭后，必須用此方法。 
3.4 基本校準的修正 
 在下述情況下，改變基本校準是有必要的: 
 ____測頭頂端被磨損。 
 ____新換的測頭。 
 ____特殊的用途。 
 在測量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應對測頭的特性重新進行校準稱為基本校準。通過輸入 6 個校準值(1 個零和 5 個厚度值)，可重新校準測頭。 
a) 在儀器關閉的狀態下按住↑和↓鍵再按 ON 鍵，直到一聲長鳴，即進入基本校準狀態； 
b) 先校零值。可連續重復進行多次，以獲得一個多次校準的平均值，這樣做可以提高校準的準確性； 
c) 使用標準片，按厚度增加的順序，一個厚度上可做多次。每個厚度應至少是上一個厚度的 1.6 倍以上，理想的情況是 2 倍。例如: 50、100、200、400、800μm。zui大值應該接近但低于測頭的zui大測量范圍；