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Bruker D8 DISCOVER x射線衍射儀
  • Bruker D8 DISCOVER x射線衍射儀
參考價 1
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準
1
≥1
具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 Bruker/布魯克
  • 型號
  • 廠商性質 經銷商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2025-02-19 10:29:31瀏覽次數:414評價

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Bruker D8 DISCOVER x射線衍射儀購買,聯系上海爾迪儀器科技有限公司

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Bruker D8 DISCOVER x射線衍射儀


Bruker D8 DISCOVERBruker D8 DISCOVER x射線衍射儀產品參數:

規格DISCOVER
外形尺寸(h xw x d)

2,020mmx 1,680mmx 1,290mm

(79.5英寸x 66.0英寸x 50.6英寸)

重量(不帶電子選件)945kg(2085磅)
功率

單相:208至240 V

三相:120 V、230 V、240 V

47至63 Hz

水冷密封管:外部
IµS:無
測角儀D8
組件識別自動
發電機功率密封管:3 kW-IµS:50 W-TXS / TXS-HE:6 kW
輻射安全性符合2014/30 / EU
電氣安全性符合2014/35 / EU
機器安全性符合2006/42 / EC

D8 DISCOVER是一款多功能X射線衍射儀,專為在環境條件和非環境條件下對各種材料進行結構表征而設計。它配備多種前沿技術組件,適用于定性相分析、定量相分析、結構測定、微應變和微晶尺寸分析等多種應用,涵蓋粉末、薄膜、多層樣品等材料。D8 DISCOVER支持多種分析技術,如掠入射衍射、X射線反射率測量、高分辨率X射線衍射等,適用于材料研究、薄膜分析等領域。該設備具備高通量篩選能力和靈活的樣品臺設計,能夠滿足復雜和高要求的實驗需求。

D8 DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術組件。它專為在環境條件下和非環境條件下,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結構表征而設計。


應用范圍:

定性相分析和定量相分析、結構測定和精修、微應變和微晶尺寸分析

X射線反射法、掠入射衍射(GID)、面內衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI應力分析、晶體取向分析

殘余應力分析、織構和極圖、微區X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)

總散射分析:Bragg衍射、對分布函數(PDF)、小角X射線散射(SAXS)


薄膜分析

  • X射線衍射(XRD)和反射率是對薄層結構樣品進行無損表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析:

  • 掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識別及結構性質測定,包括微晶尺寸和應變。

  • X射線反射率測量(XRR):用于提取從簡單的基底到高度復雜的超晶格結構等多層樣品的厚度、材料密度和界面結構信息。

  • 高分辨率X射線衍射(HRXRD):用于分析外延生長結構:層厚度、應變、弛豫、鑲嵌、混合晶體的成分分析。

  • 應力和織構(擇優取向)分析。


材料研究

XRD可研究材料的結構和物理特性,是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布魯克推出的、用于材料研究的旗艦款XRD儀器。D8 DISCOVER配備了技術的組件,可為您帶來優異的性能和充分的靈活性,同時讓研究人員對材料進行細致入微的表征:

  • 定性相分析和結構測定

  • 微米應變和微晶尺寸分析

  • 應力和織構分析

  • 粒度和粒度分布測定

  • 使用微米大小的X射線束進行局部XRD分析

  • 倒易空間掃描


篩選和大區域掃描

涉及高通量篩選(HTS)和大區域掃描分析時,D8 DISCOVER是優異解決方案。而有了UMC樣品臺的加持,D8 DISCOVER更是成為了電動位移和重量能力方面的同類優異:

  • 孔板和沉積樣品在反射和透射中的高通量篩選(HTS)

  • 對最/大300 mm的樣品進行掃描

  • 安裝和掃描重量不超過5kg的樣品

  • 自動化接口


微焦源IμS

配備了MONTEL光學器件的IμS微焦源可提供高/強度小X射線束,非常適合小范圍或小樣品的研究。

  • 毫米大小的光束:高亮度和低背景

  • 綠色環保設計:低功耗、無耗水、使用壽命延長

  • MONTEL光學器件可優化光束形狀和發散度

  • 與布魯克大量組件、光學器件和探測器兼容。



UMC樣品臺

D8 DISCOVER提供了許多UMC平臺,具有全新的樣品掃描和重量容納能力:

  • 可對重達5 kg的樣品進行掃描

  • 大區域映射:最/大300mm的樣品

  • 支持高通量篩選(HTS)的UMC樣品臺,最多支持三個孔板。

考慮到其高度的模塊化性能,該UMC樣品臺可根據客戶的要求進行超出標配的定制。



多模EIGER2 R檢測器

EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實驗室X射線衍射的2D檢測器。

先進的傳感器設計,包括第二代性的EIGER:最/大尺寸為75 x 75mm2的50萬像素,可實現微觀分辨率的宏觀覆蓋。

符合人體工程學的設計:輕松即可根據應用需求,調節探測器的位置和方向,包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續變化、支持自動對光。

全景光學器件和附件,視野開闊。

0D、1D和2D操作模式:支持快照、步進、連續或高級掃描模式。

可與DIFFRAC.SUITE無縫集成。


TRIO Optics與PATHFINDER PLUS Optics

獲得的TRIO光學器件可在三種光路之間自動切換:

用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何

用于毛細管,GID和XRR分析的高/強度平行光束Kα1,2幾何

用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何

PATHFINDERPlus光學器件帶有一個用于確保測得強度的線性的自動吸收器,并可在以下之間切換:

電動狹縫:用于高通量測量

分光晶體:用于高分辨率測量

使用配備了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER,無需重新配置,在環境條件下或非環境條件下,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內的所類型盡在掌握。


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