析譜X3PCST薄膜固體測試儀用途:基于各種物質的分子及其結構，對不同波長的單色光呈現選擇性吸收的特性。本儀器在紫外可見光光譜范圍內，可對物質成分及含量進行定性和定量分析，它在化工、醫學、生物、農業、食品、環境保護、珠寶、玻璃、古董等方面應用廣泛。
析譜X3PCST薄膜固體測試儀儀器工作原理
    分光光度法利用物質對某種波長單色光的光能量的吸收特性,根據郎伯-比爾定律以測量物質的成份及含量。本儀器是利用相對測量原理工作，即先選定某一溶劑作為空白溶液(或參比溶液)將其透過率(透射比)作為100%，然后測定試樣的透過率(或吸光度、濃度),讀取相對比值。對于濃度測量，還須測出標準濃度溶液來標定曲線斜率。
朗伯—比耳定律:
T=I/I。 ， A=KCL=‐㏒I/Io ， 其中T 透過率  
      A  吸光度
      C  溶液濃度
      K  溶液的吸光系數
      L  液層在光路中的長度
      I   光透過被測試樣后照射到光電轉換器上的強度
      Io 光透過參比測試樣后照射到光電轉換器上的強度

測試固體樣品、規格最小 φ1.0mm -500*500mm  厚度：0.01-100mm固體、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構件光學性能的測定等，儀器等級GB/T26798-2011 Ⅱ級.
開機自校；聯PC操作端；軟件版本win10 光譜分析家。
優勢：固體、薄膜、玻璃或者亞克力等 特薄、特厚、特大的樣品直接平放測試，方便快捷、測試數據更準確。

開機自校；聯PC操作端；軟件版本UV9.0 win10 64位。