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四探針涂層電阻率測試儀，配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單...

四探針涂層電阻測試儀，采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更...

四探針薄膜電阻率測試儀，半導體材料的電導性能和均勻性通過四探針法來測試，四探針測試儀根據量程可以劃分為，低阻四探針測試儀測到-6次方；高阻四探針測試儀測到7次方...

四探針膜層電阻測試儀按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1...

四探針膜電阻測試儀廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電（屏蔽）布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、電阻測試

涂層雙電測電四探針方阻電阻率測試儀，該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進...