2011年1月15-19日，應德國LemnaTec公司之邀，我司應邀赴美國圣地亞哥參加第19屆動植物基因組大會（Plant and Animal Genome XIX Conference，PAG XIX）。PAG會議是*基因組學界規模zui大、水平zui高、組織的會議，每年固定在圣地亞哥召開。第19屆PAG會議的與會代表超過2200人，而且多數代表是各國相關研究項目的負責人和技術骨干，可以說是基因組學界的一次盛會！

                             LemnaTec展臺                                                                      CID展臺

澤泉科技的合作伙伴、上*能提供商業化植物表型組平臺的公司——德國LemnaTec公司布設了展臺，向*的科學家展示了“全自動、高通量植物（3D）成像技術”這一得到成功應用的植物表型組平臺技術。同時，LemnaTec*次展示了整合在人工氣候室（Chamber）中的全自動、高通量植物成像系統。該系統受到與會人員的熱烈歡迎。

                                                    LemnaTec展臺與Chamber版HTS系統受到與會人員熱烈關注

會議期間，LemnaTec組織了一個“植物表型組學Workshop”，該Workshop由LemnaTec公司市場總監 Joerg Vandenhirtz主持，來自8個植物表型組學、植物功能基因組學、作物育種等領域的專家做了報告交流，其中5個報告人都是LemnaTec的用戶，他們共購置了11套Scanalyzer 3D系統，另外3位報告人也都在申請購置Scanalyzer 3D系統。這些報告人的詳細信息和報告題目如下：

Geoff Fincher, ACPFG Adelaide, SA （澳大利亞植物表型組設施“植物加速器”主要負責人之一，三套LemnaTec用戶）
"Evaluation of Next Generation Phenotyping: The Australian Plant Phenomics Facility"

Nils Stein, IPK Gatersleben, Germany （德國IPK作物育種與遺傳研究所，表型平臺負責人，三套LemnaTec系統的用戶）
"High-throughput phenotyping in barley ? the IPK plant phenomics facilities"

Marco van Schriek, KeyGene, Wageningen, NL （荷蘭KeyGene公司技術核心，兩套LemnaTec系統的用戶）
"KeyTrack Root Phenotyping - At the Root of Development"

Fred van Eeuwijk, WUR Wageningen, NL （荷蘭瓦赫寧根大學，正準備購置LemnaTec系統）
"Large Scale Phenotyping In Plant Breeding: An Example In Pepper"

Fabio Fiorani, FZ Julich, Germany （德國Julich表型中心，準備購置LemnaTec系統）
"The Julich Plant Phenotyping Center （JPPC） Platform at Forschungszentrum J眉lich GmbH"

Catherine Howarth , Aberystwyth University, UK （英國Aberystwyth大學，LemnaTec系統用戶）
"Development of high throughput plant phenotyping facilities at Aberystwyth"

Roberto Tuberosa , University of Bologna, Italy （意大利Bologna大學，正準備購置LemnaTec系統）
"DROPS: An EU-funded project to improve crop performance under drought conditions

Christophe Salon, INRA Dijon, France （法國農科院，兩套LemnaTec系統用戶，正準備購置第三套）
"A Platform For High Throughput Phenotyping Of Plant/Plant And Plant/Microorganisms Interactions"

                              植物表型組學Workshop                                                  Chamber版HTS系統

期間，LemnaTec還與KeyGene聯合宣布，歐洲植物表型組平臺PhenoFab正式成立運行，這標志著植物表型組學研究又將上升到一個新的高度！

在這個植物基因組的時代，隨著分子遺傳學、分子生物學以及分子研究技術的不斷完善和發展，我們已經獲得了多種作物的大量的DNA序列信息，有些甚至完成了全基因組序列的測定，面對如此豐富而龐大基因信息，如何將其更加可靠有效地與表型數據結合起來，已經成為當今作物遺傳改良過程中不可逾越的瓶頸！PhenoFab作為*個面向的植物表型研究組平臺，能夠全自動高通量的研究植物表型，從而為表型組學研究提供解決方案。PhenoFab植物表型研究平臺的成立與開放，必然會為的種子產業及遺傳育種研究帶來新的機遇。

PhenoFab^TM通過一個*自動化的大型溫室作為植物表型組學研究的平臺，平均可以容納1100盆植物，利用*設計的傳送裝置，可以將植物有序送至成像暗房中進行成像，成像模塊主要包括可見光成像（可以測量植物的結構、寬度、密度、對稱性、葉長、葉寬、葉面積、葉角度、葉顏色、葉病斑、種子顏色、種子顏色面積等參數）、近紅外成像（可以分析植物的水分測定）和熒光成像（熒光物質可視化分析，如葉綠素、GFP以及其他報告基因）。基于之前已有的系統，德國LemnaTec公司以及荷蘭KeyGene公司已經對多數作物（包括玉米、煙草、馬鈴薯、油菜以及其他各種蔬菜）的大量性狀（包括抗旱性、生長發育與產量、質量性狀、生物脅迫以及根系發育）進行了廣泛而深入的研究，并且積累了豐富的經驗，這為目前新型PhenoFab^TM植物表型組學研究平臺（收費服務）的建立奠定了基礎。PhenoFab^TM位于瓦赫寧根市荷蘭農業食品中心，結合了德國LemnaTec公司的全自動成像和傳送系統以及荷蘭KeyGene公司的表型運算分析系統，高通量無損傷的鑒定植物各種表型變異，是表型組學研究的解決方案。

德國LemnaTec公司CEO Dirk Vandenhirtz談到：“我們希望通過PhenoFab^TM植物表型組學研究平臺，能夠推動植物表型組學研究達到一個新的高度。LemnaTec與KeyGene將會通力合作，發揮各自優勢，為植物表型組學研究提供世界*的。LemnaTec成立于1998年，一直致力于科學的圖像處理技術研究，并且已經在范圍內建立了多套植物表型組學研究系統。而PhenoFab^TM作為一套新型的表型組學研究平臺，是LemnaTec*次直接為育種家提供服務，這對于LemnaTec具有重大的戰略意義。”

荷蘭KeyGene公司CEO Arjen J. van Tunen說道：“利用新型的PhenoFab^TM表型組學研究平臺，我們能夠快速無損傷的獲得大量可靠的植物表型數據，結合我們所掌握的大量的DNA序列信息，便可以對遺傳育種過程中所關心的重要性狀進行更深入的研究，開發出新型的生物標記，從而大大提高作物遺傳改良進程。我們非常看重與LemnaTec公司的這次戰略合作，這必將為我們雙方以及我們的客戶帶來巨大的利益！”

本次PAG會議期間，澤泉科技還遇到了合作伙伴美國CID公司。CID公司是在澤泉科技的建議下參加PAG會議，會議的展示效果非常好，他們對澤泉科技的建議表示了衷心的感謝。

澤泉科技作為一家在植物、農學等領域有著專業技術實力和良好服務水平的公司，將一如既往的攜手*合作伙伴，為國內廣大客戶提供高品質的產品、專業的解決方案和完善的與服務。