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介電常數介質損耗/介電常數測試儀
詳細摘要:介電常數介質損耗試驗儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
產品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數介質損耗測試儀1
詳細摘要:6.Q表正常工作條件

a. 環境溫度:0℃~+40℃;

b.相對濕度:80%;

c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

7.其他

a.消耗功率:約25W;

b.凈重:約7kg;

c.外型尺寸:(寬×高×深)mm:380×132×280。
產品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數介質損耗測試儀GB1409
詳細摘要:介電常數介質損耗測試儀參數
Q 值測量范圍 2 ~ 1023
固有誤差 ≤ 5 %
工作誤差 ≤7%
電感測量范圍 4.5nH ~ 140mH
電容直接測量范圍 1 ~ 200pF
主電容調節范圍 18 ~ 220pF
主電容調節準確度 1 %
信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz
頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 160MHz
產品型號:gdat-a所在地:北京 參考價:面議
介電常數介質損耗測試儀廠家
詳細摘要:介電常數介質損耗測試儀主要技術特性
Q 值測量范圍 2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔
固有誤差 ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)

工作誤差 ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度
產品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數測試儀廠家
詳細摘要:gdat高頻Q表的創新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。
產品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
材料介電常數試驗儀
詳細摘要:介電常數介質損耗試驗儀滿足標準:GBT1409-2006
產品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
工頻介電常數介質耗損測試儀
詳細摘要:主要用于測量高壓工業絕緣材料的介質損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經典線路。
主要可以測量電容器,互感器,變壓器,各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質損耗( tg)和電容量( Cx)以,其測量線路采用“正接法"即測量對地絕緣的試品。
產品型號:BDAT-B所在地:北京海淀上地十街輝煌國際6號樓4層0426室 參考價:面議
介電常數介質耗角測試儀
詳細摘要:介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。
產品型號:GDAT-A所在地:北京海淀上地十街輝煌國際6號樓4層0426 參考價:面議
介電常數測試儀
詳細摘要:介電常數試驗儀主要特點:
空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低。
產品型號:GDAT-A所在地:北京海淀建材城西路50號 參考價:面議
介電常數介電耗損測試儀
詳細摘要:介電常數介質損耗是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。
產品型號:GDAT-A所在地:北京市海淀區上地十街輝煌國際西6號樓4層0426 參考價:面議
介電常數測定儀儀
詳細摘要:滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
產品型號:所在地:北京市海淀區建材城西路 參考價:面議
介電常數測試儀設備
詳細摘要:介電常數測試儀
產品型號:所在地:北京市海淀區建材城西路 參考價:面議
介電常數測試儀GDAT-A
詳細摘要:空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。
產品型號:所在地:北京市海淀區 參考價:面議
薄膜工頻介電常數介質損耗測試儀(液體)
詳細摘要:主要用于測量高壓工業絕緣材料的介質損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經典線路。
產品型號:所在地:北京市海淀區建材城西路 參考價:面議
介電常數測試儀 介電常數 介電常數試驗儀 檢測設備儀器
詳細摘要:空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。
產品型號:所在地:北京市海淀區建材城西路 參考價:面議
北京哪里生產介電常數介質損耗測試儀
詳細摘要:空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。
產品型號:所在地:北京市海淀區建材城西路50號 參考價:面議
介電常數介質損耗測試儀器
詳細摘要:介電常數介質損耗測試儀專業供應商,如需請致電詳談。
產品型號:所在地:北京市海淀區 參考價:面議
介電常數測試儀/介質損耗
詳細摘要:c類數顯Q表工作頻率范圍是10kHz~60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯諧振原理,以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值,電感量和分布電容量;電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質損耗裝置還能對固態絕緣材料的高頻介質損耗(tanδ)和介電常數(ε),高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等進行測試。
產品型號:所在地:北京市海淀區 參考價:面議
介電常數檢測儀
詳細摘要:介電常數測試儀
產品型號:GDAT-A所在地:北京市海淀區 參考價:面議
介電常數測試儀(試驗儀器)
詳細摘要:北京北廣精儀儀器設備有限公司專業生產介電常數測試儀,: ,
產品型號:所在地:北京市海淀區 參考價:面議

北京北廣精儀儀器設備有限公司主營產品:絕緣強度耐電壓擊穿試驗儀-高壓電橋法介電常數測試儀-高電壓擊穿強度試驗儀 化工儀器網 設計制作,未經允許翻錄必究.Copyright(C) http://www.zjmenchuan.com, All rights reserved.

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