銠鈀鉑標準片X射線測厚儀校正片

銠：0.1um,0.4um

鉑：0.1um,0.27um

鈀：0.05um，0.06um，0.2um，0.3um，0.6um，1.10um

金：0.04um.....6um

銀：0.28um.....20um

鎳：0.5um.....30um

錫：0.3um......30um

以上標準片各種數值均無訂制，標準片均附帶證書

MicroPioneerXRF-2020

微先鋒X射線測厚儀標準片

應用于測厚儀校正及應用程序添加

XRF-2000測厚儀標準片：金,鎳,銅,鋅,鉻,錫,銀,鋅鎳合金等

各鍍種標片及范圍通用于所有品牌測厚儀

標準片均附帶證書

鍍層測厚儀標準片校正片X-RAY膜厚儀校準片

適合各種X射線鍍層測厚儀

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。 

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。 
 

韓國MicroPioneerXRF-2020提供金,鎳,銅,鋅,鉻,錫,銀,鋅鎳合金等標準片

各種規格及厚度范圍勻可訂制。

銠鈀鉑標準片X射線測厚儀校正片

應用于X-RAY膜厚儀測量程序校正及添加

標準片所有X射線測厚儀通用

銅，鎳，鋅，鉻，金，錫，銀，鉑，銠，鈀，鋅鎳合金:

各種規格厚度標準片均有

銠鈀鉑金銀錫：各種首飾鍍金應用校正及測量

厚儀,X光鍍層測厚儀,電鍍層測厚儀，電鍍測厚儀,鍍層測厚儀,X光膜厚儀,鍍層膜厚檢測儀,電鍍鍍層測厚儀,XV鍍層測厚儀,X-RAY鍍層膜厚檢測儀,鍍

層厚度測試儀,電鍍測厚儀,鍍層膜厚儀