LED支架銅上鍍錫測厚儀：測量范圍0.3-60um
韓國先鋒Micro Pioneer鍍層測厚儀
檢測電子電鍍層厚度：如鍍金，鍍鎳，鍍鋅，鍍錫，鍍鉻，鍍鋅鎳
鍍銀等。
XRF-2000鍍層測厚儀基本技術參數：
1、測量的厚度范圍為0.03微米～35微米。
2、可滿足的測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳等
3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量，不限底料。
三、設備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統
使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層
擁有多種濾波器選擇
各種樣品單層至多層（5層），合金膜層與溶液均可測量
定點自動定位分析
光徑對準全自動
影像重疊功能
自動顯示測量參數
彩色區別測量數據
多重統計顯示視窗與報告編輯應用2D/3D，
任意位置測量控制Y軸全自動控制鐳射對焦與自動定位系統
多種機型選擇X-ray運行待命
LED支架銅上鍍錫測厚儀：測量范圍0.3-60um
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