貨號：ZH7263

產(chǎn)品簡介:

VXMGZ-I高阻測定儀是根據(jù)PTC研究項目的需要而開發(fā)的用計算機控制PTC材料R-T曲線性能的儀器。

VXMGZ-I高阻測定儀是在高溫和線性升溫條件下測試材料的高阻性能的儀器。

VXMGZ-I高阻測定儀主要參數(shù)：

可對Ф40mm以上或10×10×10mm3PTC樣品進行R-T特性試驗儀器電阻測量范圍：0.01Ω-1015Ω±3%

溫度控制范圍：室溫-300℃    

分辨率：0.1℃

控溫方式：恒溫±0.5℃

勻速升溫速率：0.5-5℃/分

勻速升溫精度：±1℃

計算機自動PTD調(diào)節(jié)，曲線CRT顯示，數(shù)據(jù)存儲、打印。

型號：VXMGZ-I 貨號：ZH7263

產(chǎn)品簡介:

該設(shè)備是根據(jù)PTC研究項目的需要而開發(fā)的用計算機控制PTC材料R-T曲線性能的儀器。

高阻測定儀是在高溫和線性升溫條件下測試材料的高阻性能的儀器。

主要參數(shù)：

可對Ф40mm以上或10×10×10mm3PTC樣品進行R-T特性試驗儀器電阻測量范圍：0.01Ω-1015Ω±3%

溫度控制范圍：室溫-300℃    

分辨率：0.1℃

控溫方式：恒溫±0.5℃

勻速升溫速率：0.5-5℃/分

勻速升溫精度：±1℃

計算機自動PTD調(diào)節(jié)，曲線CRT顯示，數(shù)據(jù)存儲、打印。