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本實驗是采用光的干涉法測量金屬的線脹系數。
實驗項目：
1.利用光的干涉測定線脹系數；
2.邁克爾遜干涉儀的調整與使用。
規格參數：
雙導軌、雙動鏡、平臺式
半導體激光器：波長625nm
溫控范圍：50-120℃，選擇
恒溫穩定度：±0.1℃
測溫范圍：-50-125℃，精度±0.1℃
本實驗是采用光的干涉法測量金屬的線脹系數。
實驗項目：
1.利用光的干涉測定線脹系數；
2.邁克爾遜干涉儀的調整與使用。
規格參數：
雙導軌、雙動鏡、平臺式
半導體激光器：波長625nm
溫控范圍：50-120℃，選擇
恒溫穩定度：±0.1℃
測溫范圍：-50-125℃，精度±0.1℃
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