三豐Mitutoyo SJ-410表面粗糙度測量儀
產品特點：
• 本系列支持有軌和無軌兩種測量。配備46 個符合*新的ISO、DIN、ANSI、JIS 標準的粗糙度參數。
• 一個寬范圍、高分辨率的檢出器和一個驅動器，提供了在同類產品中更*的高精度測量。
• 無軌檢出器和弧形表面補償功能使它能有效地評價圓柱體表面粗糙度。
• 特細的階差，直線度、波紋度均可用無軌測量功能測出。
• 手持便攜式數據處理單元和 5.7 英寸彩**形 LCD 觸摸面板，提供出眾的可讀性和可操作性。LCD 還具有背光功能，提高了黑暗環境中的可見度。
• 測量數據可通過 RS-232C 接口電纜 (選件)由外部 PC輸出。
• 帶有校正粗糙度標準板。
• 由數字濾波功能可得到不失真的表面粗糙度輪廓圖。
• GO/NG 判斷功能。
• 自動校正功能。
• 顯示接口支持 16種語言，可以自由切換。
• 簡便的輪廓分析功能支持四種類型的測量：步進、水平變化、面積和坐標差。
• 每個功能可以設置密碼保的，這樣可以防止意外操作，并保護您的設置。
• 可選的附件如果能安裝在支架上，可以顯著提高可操作性。

三豐Mitutoyo SJ-410表面粗糙度測量儀
技術參數：
X 軸 (驅動部)
測量范圍 : 25mm (SJ-411), 50mm (SJ-412)
測量速度 : 0.05, 0.1,0.2, 0.5, 1.0mm/s
返回速度 : 0.5, 1, 2,5mm/s
移動方向 : 向后
直線度 : 0.3µm / 25mm (SJ-411), 0.5µm / 50mm (SJ-412)
定位 : ±1.5º (傾角), 10mm (向上／向下)
檢出器：
范圍／分辨率 : 800µm /0.0125µm,80µm/0.00125µm, 8µm / 0.000125µm (使用測針選件 時，*大可達 2400µm)
檢測方法 : 無軌／有軌測量
測力 : 0.75mN 或 4mN 參見 L-5頁
測針針尖 : 金剛石 60º /2µmR ,(90º / 5µmR:參見 L-5頁)
導頭曲率半徑 : 40mm
類型 : 差動電感式
電源 : 通過 AC適配器／可充電鎳氫電池
電池壽命 : *多可測量 1000次 (不帶打印)
充電時間 : 數據輸出通過 USB接口4小時/ RS-232C 端口 / SPC輸出
存儲 ：內置存儲器 ： 測量條件 (10套)
記憶卡 (選配)： 500個測量條件，10000個測量輪廓，500個顯示圖像，文本文件 (測量條件/測量輪廓/評價輪廓/相對負荷曲線 /振幅分布曲線)，500個統計數據等。

尺寸 (WxDxH) ：
控制器 : 275 x 109 x 198mm
高度 -傾角調整裝置 : 131 x 63 x 99mm
驅*部 : 128 x 36 x 47mm (SJ-411), 155 x 36 x 47mm (SJ-412)
控制器重量 : 大約 1.7kg
高度 -傾角調整裝置 : 大約 0.4kg
*動部 : 0.6kg (SJ-411), 0.7kg (SJ-412)

評價能力：
適用標準 :JIS’82, JIS’94, JIS’01, ISO’97, ANSI, VDA, 任意
評價輪廓:P (原始輪廓), R (表面粗糙度輪廓),DF(DF輪廓 ) W (波紋度輪廓), 粗糙度 motif, 波形motif
評價參數 :Ra, Rq, Rz, Ry, Rp, Rv, Rt, R3z,Rsk,Rku,Rc,RPc,RSm,Rmax (VDA, ANSI), Rz1max(ISO’97),S,HSC,RzJIS(JIS’01), Rppi, RΔa, RΔq, Rlr, Rmr, Rmr(c), Rδc, Rk,Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, lq, Lo, Rpm, tp(ANSI),Htp(ANSI), R, Rx, AR, W, AW, Wx, Wte
分析圖表 : 支撐曲線 (BAC), 振幅分布曲線 (ADC)
濾波類型 2CR, PC75, 高斯
截止波長 lc: 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mmls: a2.5, 8, 25µm( 切換取決于選擇 標準 )
取樣長度 : 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25*mm; 或增 量為 0.1 - 25mm (0.1 -50mm: SJ- 412) 0.01mm 之間的任意長度
取樣數 : 1, 2,3 ,~20 (受限于移動范圍)
打印機 熱敏打印機打印寬度 48mm (紙寬 : 58mm)
記錄倍率
垂直 : 10X - 100,000X, 自動
水平 : 1X - 1,000X, 自動