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XP205梅特勒XP205分析天平
隨著超越系列XP天平的誕生, 梅特勒-托利多在分析天平領域樹立起了又一里程碑。*的技術帶來了的稱量性能，在人員，樣品和數據安全方面設置了新的標準。
規格 - XP205 分析天平
| zui大稱量范圍 | 220 g |
| 可讀性 | 0.01 mg |
| 線性 | 0.1 mg |
| 重復性 | 0.015 - 0.03 mg |
| 靈敏度（溫度漂移） | 1 x 10^-6/°C •Rnt |
| 秤盤尺寸 | 78 x 73 mm |
| 去皮范圍 | 0...220 g |
| 靈敏度精度 | 2.0 x 10^-6 •Rnt |
| 靈敏度穩定性 | 1 x 10^-6/a •Rnt |
| 穩定時間 | 1.5 s |
| 防風罩可用高度 | 235 mm |
| 外部砝碼校準 | 用戶砝碼 |
| 內部砝碼校準 | ProFACT專業全自動校準技術專業級全自動校準技術, 溫度漂移和時間觸發的全自動內校 |
| 尺寸 | 263x487x322 mm （DxH） |
| 接口 | RS-232C |
| Minimum weigh （typical acc. USP） | 21 mg |
| Minimum weigh （typical, U=1%, sd=2） | 1.4 mg |
| Sensitivity offset | 2x10-6·Rnt |
| 物料號 （s） | 11106024 |
| 商業名稱 | 11106024 |
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