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閃頻測速儀/便攜式測速儀 型號:XB-DT2239B
采用微型計算機(CPU)、光電。
抗干擾等實現非接觸轉速
測量,以及檢測運動物體的狀態和表面
缺損。
超大屏幕液晶顯示帶背光
數字控制調整閃頻頻率
電源消耗低
測量范圍:60~19,999RPM
粗調/細調幅度:
<1,000RPM 粗調 ±10RPM
細調 ±0.1RPM
≥1,000RPM 粗調 ±100RPM
細調 ±1RPM
準確度:±0.05%
分辨率:<1,000RPM:0.1RPM
≥1,000RPM:1RPM
電源:4x1.5V AA電池
半導體電阻率測試儀/電阻率測試儀/半導體電阻率測定儀(含探頭和測試架) 型號:HAD-HHY8-BD-86A
HAD-HHY8-BD-86A型半導體電阻率測試儀是我廠推出的的普及型半導體電阻率測試儀器,本儀器是根據四探針原理,適合半導體器材廠,材料廠用于測量半導體材料(片狀、棒狀)的體電阻率,方塊電阻(簿層電阻),也可以用作測量金屬薄層電阻,經過對用戶、半導體廠測試的調查,根據美國ASTM標準的規定,在電路和探頭方面作了重大的修改和上的許多突破,它更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要,成為普及型的電阻率測試儀,具有測量精度高,穩定性好,輸入阻抗高,使用方便、價格低廉等特點。
儀器主要指標:
1. 測量范圍:電阻率10-3—103Ω-cm,分辯率為 10-4Ω-cm ,可擴展到105Ω-cm
方塊電阻10-2—104Ω/□,分辯率為10-3Ω/□,可擴展到106Ω/□
薄層金屬電阻10-4—105Ω,分辯率為10-4Ω
2.可測半導體材料尺寸:直徑Φ15—Φ125mm; 長度:150mm(可擴展500mm)
3.測量方式:軸向、斷面均可
4.數字電壓表:(1)量程:20mV(分辯率:10μV)、200mV、2V
(2)測量誤差:±0.3%讀數±1字
(3)輸入阻抗:大于108Ω
(4)顯示3 1/2 位紅色發光二極管(LED)數字顯示
0---1999具有極性、過載、小數點、單位自動顯示
5.恒流源:由交流供電,具有良好的防泄漏隔離功能
(1) 直流電流:0—100mA連續可調
(2) 量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
(3) 分辯率:10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA
(4) 電流誤差:±0.3%讀數±2字
6.電性能模擬考核誤差:<±0.3%符合ASTM指標
7.測試探頭:(1)探針機械游移率:± 0.3% 符合ASTM 指標
8.電源:交流220V±10% 50HZ或60HZ 功率消耗< 30W
9.電氣箱外形尺寸:119×440×320mm
產品名稱: 電阻率及型號測試儀 |
電阻率及型號測試儀是運用四探針測量原理的綜合測試裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,適用于半導體及太陽能行業的篩選。
1 儀器采用 220V 交流電源供電。
2 同時檢測硅半導體材料的電阻率和型號兩項指標。
3 擁有較高的電阻率測試分辨率,小可到 0.001 歐姆.厘米。
4 能精確的分辨電阻率在 0.002 歐姆.厘米以上的硅半導體材料型號。
5 獨立的 P/N 型重摻告警設置,便于工廠大規模快速選料。
6 適中的體積和便攜性。
7 簡單的操作,快速的測試。
8 低廉的價格,很高的性價比。
1 供電電源 220V±10% 50Hz AC
2 功耗<1w
3 主機尺寸 155×120×50mm
2 電阻率測試范圍 0.001~50 歐姆.厘米
3 電阻率測試精度 ±5%±2LSB
半導體粉末電阻率測試儀/粉末電阻率測試儀 型號:HAD-HHY8-FZ-2006
本儀器是為了適應當前迅速發展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關標準的。 儀器的電流輸出為 10 µA - 100 mA ,電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5Ω cm ,直接采用數字顯示。儀器的可靠性和穩定性大大增強,更方便于用戶, 而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、高分子納米粉末和固態金屬進行電阻、電阻率多用途的測量。
適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料,特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數字顯示由具有高精度加壓系統, 高度測量的測試臺和儀器組成.
儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分,電氣測試部分由高精度直流數字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器, 加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動操作、壓力平穩。本儀器具有測量精度高,穩定性好,重復性好,使用方便等特點, 并有自校功能。
本儀器采用通用的電流-電壓降法即四端子測量法,可以消除電極與粉末接觸產生的接觸電阻誤差,還可以消除聯接系統所帶來的誤差, 克服了以往傳統的二端測量粉末電阻率儀器的弊病,真實、準確地測量出粉末樣品的電阻率,因此重復性好。
本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研、是檢驗和分析固態、粉態和納米樣品質量的一種重要工具。
主要指標:
1. 測量范圍:
· 電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
· 電阻率 10-4 - 105 Ω.cm,分辨率 10-4 Ω.cm
測量誤差 ±(0.3% 讀數 + 2 字)
2. 測量電壓量程:20mV, 200mV, 2V,分辨率 10 µV
測量精度: ±(0.3% 讀數 + 2 字)
3. 測量電流:0 - 100 mA 連續可調,
電流量程:10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA
4. 試樣粒度:40 目以下 - 60 目以上(標準篩網)納米粉末
5. 試樣容器:內腔Φ16.30 ± 0.1mm
6. 試樣高度:16mm ± 0.5mm
測量誤差:±0.1mm
7. 取樣壓力:4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
壓力量程:0 - 100 kg 可調
8. 顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數字顯示,并自動顯示單位和小數點
9. 電源:220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
10. 外形尺寸電氣箱:440mm×120mm×320mm
11. 備有粉末測試架和固態標準樣品測試臺供選
1.電氣箱一臺 FZ-2006A(主機)
2.測試架一臺 FZ-2010
3.使用說明書一份
4.電源線二根
5.合格證一份
6.四端子測試線一根
7.電源線二根
微型高速粉碎機 粉碎機 粉碎機 型號:HAD-HB-WWFS-Ⅱ
該機可用于破碎煤炭、焦炭、礦物質、土壤、砂、石和植物種子。適用于煤炭、焦化
、地質、醫藥衛生、農業、工業的科研單位和化驗制樣室制取少量試樣用。
二、主要指標
轉子轉速:210000r/min
入料粒度:-6mm
出料粒度:≤60-120
每次入料量:≤50g
粉碎時間:3-5秒
電源:220V 50HZ
三、該產品特點
1、轉速高:≥10000轉/分
2、效率高:50g物料僅需要3-5秒便可完成粉碎,即簡便又快速。
3、密封性好;工作中沒有被粉碎的物料泄漏,使工作環境保持清潔。
4、性能穩定:可連續工作,使用壽命長。
產品名稱: 電阻率及型號測試儀 貨 號:29364 產品型號:HAD- JX2008 |
電阻率及型號測試儀是運用四探針測量原理的綜合測試裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,適用于半導體及太陽能行業的篩選。
1 儀器采用 220V 交流電源供電。
2 同時檢測硅半導體材料的電阻率和型號兩項指標。
3 擁有較高的電阻率測試分辨率,小可到 0.001 歐姆.厘米。
4 能精確的分辨電阻率在 0.002 歐姆.厘米以上的硅半導體材料型號。
5 獨立的 P/N 型重摻告警設置,便于工廠大規模快速選料。
6 適中的體積和便攜性。
7 簡單的操作,快速的測試。
8 低廉的價格,很高的性價比。
1 供電電源 220V±10% 50Hz AC
2 功耗<1w
3 主機尺寸 155×120×50mm
2 電阻率測試范圍 0.001~50 歐姆.厘米
3 電阻率測試精度 ±5%±2LSB
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