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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器精度 | 萬分之一克 | 儀器量程 | 2-5g |
| 儀器種類 | 超微量天平 | 應用領域 | 環保,化工,電子/電池 |
| 極限值 | XP2U |
| 最大稱量值 | 2.1 g |
| 可讀性 | 0.0001 mg |
| 重復性(sd) - 加載處 | 0.00025 mg |
| - 低加載（加載處） | 0.0002 mg (0.2 g) |
| 線性 | 0.001 mg |
| 靈敏度漂移 | 1.5 x 10-5 |
| 靈敏度溫度漂移 2) | 0.0001 %/°C |
| 靈敏度穩定性 3) | 0.0001 %/a |
| 典型值 4) | |
| 典型重復性（sd） | 0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr |
| 典型微分非線性（sd） | √8x(10-14) · g · R_nt |
| 典型靈敏度偏移（sd）2) | 3x(10-6)· R_nt |
| 典型最小稱量值*（符合USP） | 0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr |
| 典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr |
| 典型穩定時間 | < 10 s |
梅特勒超微量天平XP2U特點：
1)根據OIML R76
2)在10到30°C的溫度范圍內
3)第一次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性
4)能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年
*重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：
- 選擇適當的稱量參數設置；
- 選擇合適的天平放置位置；
- 使用較小的去皮容器。
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