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參考價(jià)	面議

原價(jià)	￥1500
參考價(jià)	￥1000	￥900	￥800
訂貨量	1-2000臺(tái)	2000-4000臺(tái)	4000-6000臺(tái)

產(chǎn)品分類 品牌分類

冷熱沖擊試驗(yàn)箱

重慶溫度沖擊試驗(yàn)箱重慶冷熱沖擊試驗(yàn)箱重慶高低溫沖擊試驗(yàn)箱溫度沖擊試驗(yàn)箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 高低溫沖擊測(cè)試機(jī) 高低溫沖擊試驗(yàn)箱三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱提籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

高低溫冷熱沖擊箱裝置TS溫度沖擊試驗(yàn)箱用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，也是篩選電子元器件初期故障的助手。

詳細(xì)介紹

高低溫冷熱沖擊箱裝置TS溫度沖擊試驗(yàn)箱

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。我司生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)質(zhì)量好，價(jià)格優(yōu)，免費(fèi)保養(yǎng)，歡迎采購(gòu)。

*設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等）保證了用戶多種功能和測(cè)試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯；
每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流（過(guò)熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

高低溫冷熱沖擊箱裝置TS溫度沖擊試驗(yàn)箱

*設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

型號(hào)

TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W

TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W

TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W

TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W

標(biāo)稱內(nèi)容積（升）

150

200

300

試驗(yàn)方式

氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式

性能

高溫室

預(yù)熱溫度范圍

＋60～＋200℃

升溫速率※1

＋60→＋200℃≤20分鐘

低溫室

預(yù)冷溫度范圍

－78－0℃

降溫速率※1

＋20→－75℃≤80分鐘

試驗(yàn)室

溫度偏差

±2℃

溫度范圍

TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

溫度恢復(fù)時(shí)間※2

5分鐘以內(nèi)

試樣擱架承載能力

30kg

試樣重量

7.5kg

10kg

內(nèi)部尺寸（mm）

500

600

750

850

400

500

600

400

500

600

800

外形尺寸（mm）※4

1460

1560

1710

1880

1840

1940

2040

1500

1600

1700

1900

※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能。

※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）

型號(hào)

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

標(biāo)稱內(nèi)容積（升）

150

200

300

試驗(yàn)方式

氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式

性能

高溫室

預(yù)熱溫度范圍

＋60～＋200℃

升溫速率※1

＋60→＋200℃≤20分鐘

低溫室

預(yù)冷溫度范圍

－78－0℃

降溫速率※1

＋20→－75℃≤80分鐘

試驗(yàn)室

溫度偏差

±2℃

溫度范圍

TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;

TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;

TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

溫度恢復(fù)時(shí)間※2

5分鐘以內(nèi)

試樣擱架承載能力

30kg

試樣重量

7.5kg

10kg

內(nèi)部尺寸（mm）

500

600

750

850

400

500

600

400

500

600

800

外形尺寸（mm）※4

1460

1560

1710

1880

1840

1940

2040

1500

1600

1700

1900

※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能。

※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）

冷熱沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能

試驗(yàn)規(guī)范

駐留溫度(℃)
(exposure temp.)

駐留溫度時(shí)間(Min)
(exposure time)

覆歸時(shí)間
(recovery time)

周期
或次數(shù)

試驗(yàn)起
始點(diǎn)

備注

適用機(jī)臺(tái)型號(hào)
TS-(80/150/225/408)

高溫

室溫

低溫

高溫/低溫

室溫

MIL-STD-883E
(Method 010.7)

+85

+10

----

-55

≧10min
≦15min

----

含駐留時(shí)間&
轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min

zui少
10次

低溫或
高溫

Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)
實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷
超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做

◎

----

+125

+15

◎

----

-10

+150

+15

◎

----

+150

+15

-65

◎

----

-10

MIL-STD-202F
(Method 07G)

+83

-25

+10

-55

28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以內(nèi)

5 cycle
25
50
100

低溫

Transfer time
不超過(guò)5 min

◎

-3

+125

-65

◎

----

-5

+125

-65

◎

----

-5

JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

室溫

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或無(wú)定義則
以3hr定義

手動(dòng)轉(zhuǎn)
移時(shí)間
2～3Min

為駐留時(shí)間
之1/10

5 cycle
除非有
其它規(guī)格

低溫

Auto
Transfer time
不超過(guò)30 sec
小試件
Transfer time
不超過(guò)10 sec

★

◎

----

IPC 2.6.7

+70

±2

----

15 Min

----

2 Min 以內(nèi)

100 cycle

高溫
(試驗(yàn)結(jié)束
點(diǎn)在高溫)

Transfer time
不超過(guò)2 min

★

-0

-5

+85

-40

◎

-0

-5

+105

-55

◎

．

-0

-5

+105

-65

．

----

-0

-5

+105

．

----

-0

IPC 2.6.6

+85

-25

+10

-55

30 Min

10-15
Min

5 cycle

◎

-0

-5

+125

-5

-65

◎

----

-0

-5

Bellcore
GR-1221-CORE

+70

±2

----

≧10min
≦15min

----

含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

◎

+80

±2

◎

JESD22
A104-A

+125

+10

-40

≦15min

含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min

抽10次
可接受;
1000次
合格

Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)
實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷
超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做

◎

-0

-10

+85

+10

-55

◎

．

-0

+125

+10

-0

-10

+150

+10

-0

+150

+10

-65

◎

．

----

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高低溫冷熱沖擊箱裝置TS溫度沖擊試驗(yàn)箱

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