您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
冷熱沖擊試驗箱（高低溫沖擊試驗箱）常見問題整理
冷熱沖擊試驗箱常見問題整理
說明：
整理與介紹目前環(huán)境試驗當中，使用者在使用環(huán)境試驗設(shè)備，以及對于規(guī)范的要求常遇見的問題與迷失，若您有下述相關(guān)問題歡迎您與業(yè)務(wù)部，我們將竭誠為您服務(wù)。
| 溫度沖擊試驗溫變率是否是越快越好？ |
| 說明：溫度沖擊試驗中的溫變率是否是越快越好，溫變率到底對于試驗結(jié)果有沒有影響，怎么樣的溫變率才是好的沖擊溫變率？ |
| 溫度沖擊與溫度循環(huán)如何分辨？ |
| 說明：溫度沖擊與溫度循環(huán)兩者的差異性在哪里，還是都一樣只是稱呼不一樣而已？ |
| 溫度沖擊試驗駐留時間如何決定？ |
| 說明：在沖擊過程當中有所謂的駐留時間，待測品的駐留時間要如何決定，是依據(jù)待測品的數(shù)量，還是看待測品的材質(zhì)而定？ |
| 沖擊溫度需OVER或低于設(shè)定值？HTS-80 |
| 說明：沖擊過程中，沖擊溫度因該是高于設(shè)定值，還是低于設(shè)定值才是正確的？ |
| 沖擊試驗的溫度感知器，因放置于測試區(qū)還是風道里面？ |
| 說明：沖擊試驗機的溫度傳感器，其放置位置因該要放在測試區(qū)里面還是風道里面？ |
| 先沖高溫還是先沖低溫？ |
| 說明：溫度沖擊試驗中，因該是要先沖高溫還是先沖低溫，如果規(guī)范沒有要求的話怎么決定？ |
| 為什么有些沖擊要過常溫？ |
| 說明：為什么有些沖擊要過常溫，而有些沖擊不需要過常溫，過常溫的沖擊試驗對于產(chǎn)品有什么影響？ |
| 使用烤箱與冷凍柜是否可以取代冷熱沖擊機來進行試驗？ |
| 說明：如果沒有錢買冷熱沖擊機的話，是否可以使用烤箱與冷凍柜透過人工搬運的方式來取代冷熱沖擊機 |
| 如何透過冷熱沖擊機來計算產(chǎn)品預(yù)估壽命？ |
| 說明：使用冷熱沖擊機使否可以計算預(yù)估產(chǎn)品可能的使用壽命 |
| 試驗中的問題： |
| 手持待測品的要點？ |
| 說明： 要將待測品拿到試驗爐內(nèi)放置，怎么樣拿才正確 |
| 試驗爐壁多久需要擦拭？ |
| 說明：試驗爐壁多久需要擦拭，是年保養(yǎng)還是季保養(yǎng)還是周保養(yǎng)，如果不擦的話又會怎么樣 |
| 我想要縮短試驗時間因該怎么做？ |
| 說明：我在進行高溫高濕試驗或是沖擊試驗時，有沒有辦法縮短我的試驗時間，讓試驗結(jié)果一樣 |
冷熱沖擊試驗箱（高低溫沖擊試驗箱）
TS系列冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱
*設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求；
冷熱沖擊試驗箱（高低溫沖擊試驗箱）*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
冷熱沖擊試驗箱（高低溫沖擊試驗箱）*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護，確保了設(shè)備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
冷熱沖擊試驗箱（高低溫沖擊試驗箱）*設(shè)備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
冷熱沖擊試驗箱（高低溫沖擊試驗箱）