基于計(jì)算機(jī)斷層掃描顯微成像技術(shù)（micro-CT）的SKYSCAN 1272 CMOS，是一套創(chuàng)新的、高分辨率的臺式三維X射線顯微成像系統(tǒng)，整合了最新的X射線技術(shù)。
1600萬像素sCMOS X射線探測器提供了高的分辨率，可生成高對比度圖像。擴(kuò)展的探測器視野和增強(qiáng)的X射線靈敏度使掃描時(shí)間縮短了一倍。每個(gè)切片的原始分辨率高達(dá)11200 x 11200像素，可以在不重新掃描樣品的情況下放大到三維體積的任何部分。新的Clean Image™掃描模式從一開始就大大減少了典型的CT偽影，從而提供了高質(zhì)量的圖像，無需繁瑣的事后校正。
布魯克臺式SKYSCAN 1272 CMOS版可以放置在任何實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)臺上，無需占用大量昂貴的實(shí)驗(yàn)室空間。只需一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的家用電源插頭即可運(yùn)行，也不需要水冷或額外的壓縮機(jī)。此外，工業(yè)級的密封X射線源是免維護(hù)的，因此也沒有其他隱性成本。SKYSCAN 1272搭載3D.SUITE軟件。這個(gè)全面的軟件包涵蓋了GPU加速重建、2D/3D形態(tài)學(xué)分析以及表面和體積渲染的可視化。
SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡特點(diǎn)：
Genius模式
SKYSCAN 1272憑借Genius模式可自動(dòng)選擇參數(shù)。只需單擊一下，即可自動(dòng)優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時(shí)間和背景校正。
而且，由于能讓樣品和大尺寸sCMOS鏡頭盡可能地靠近光源，它能大幅地增加實(shí)測的信號強(qiáng)度。正是因?yàn)檫@個(gè)原因，SKYSCAN 1272的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)最多可快5倍。
自動(dòng)進(jìn)樣器
SKYSCAN 1272可以選擇配合一個(gè)有16個(gè)位置的外置自動(dòng)進(jìn)樣器，以增加進(jìn)行質(zhì)量控制和常規(guī)分析時(shí)的處理速度。
自動(dòng)進(jìn)樣器可以容納不同尺寸的樣品，樣品直徑最大可達(dá)25 mm。
可以隨時(shí)很方便地切換樣品，不會中斷正在進(jìn)行的掃描過程。系統(tǒng)可以自動(dòng)檢測新樣品，LED可以顯示每一次掃描的狀態(tài)：準(zhǔn)備、掃描和完成。
原位試驗(yàn)臺
布魯克的材料試驗(yàn)臺可以進(jìn)行最大4400 N的壓縮試驗(yàn)和最大440 N的拉伸試驗(yàn)。所有試驗(yàn)臺都能通過系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)臺自動(dòng)聯(lián)系到一起，而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件，可以設(shè)置預(yù)定掃描試驗(yàn)。
布魯克的加熱臺和冷卻臺可以達(dá)到最高+80oC或z低低于環(huán)境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗(yàn)臺一樣，加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接，系統(tǒng)可以自動(dòng)地識別不同的試驗(yàn)臺。通過使用加熱臺和冷卻臺，可在非環(huán)境條件下檢測樣品，從而評估溫度對樣品微觀結(jié)構(gòu)的影響。
SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡技術(shù)參數(shù)：
特點(diǎn) | 參數(shù) | 優(yōu)勢 |
X射線源 | 40 – 100 kV 10 W < 5 µm 點(diǎn)尺寸，4 W | 免維護(hù)、全密封的X射線源 通過快速掃描實(shí)現(xiàn)質(zhì)量控制，或4D XRM |
X射線探測器 | 16 MP sCMOS 探測器（4096 x 4096 像素） | 排列精密的探測器可實(shí)現(xiàn)最高分辨率 |
樣品尺寸 | 最大直徑 75 毫米 最大高度70 毫米 | 適用于小-中等尺寸樣品 |
自動(dòng)進(jìn)樣器（可選） | 16種樣品，直徑最大可達(dá)25 mm 外置 | 無人值守，高通量 大小樣品隨意組合 隨時(shí)添加/取出樣品，不中斷掃描過程 |
尺寸 | 1160 mm x 520 mm x 330 mm（寬x深x高） 重量 150 千克 | 節(jié)省空間的、適合每一個(gè)實(shí)驗(yàn)室的臺式系統(tǒng) |
電源 | 100-240V AC，50-60Hz，最大3A | 安裝需求低，標(biāo)準(zhǔn)電源即能滿足要求 |
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