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微分干涉顯微鏡下的屏幕瑕疵
發布時間：2023-04-17
微分干涉顯微鏡下的屏幕瑕疵
微分干涉是顯微成像技術中的扛鼎之作，它具有立體感強、成像清晰、細節豐富等特點。
1952年，Nomarski在相差顯微鏡原理的基礎上發明了微分干涉顯微鏡，微分干涉英文簡稱DIC，是顯微成像技術中的一種，分為觀察水生物等透明樣品用的透射DIC（生物DIC）和觀察電路板等樣品用的落射DIC（金相DIC）。在生物領域與相差顯微鏡相比，DIC的標本厚度可以略厚一點，而且立體感和細節更好。
微分干涉顯微鏡相較于一般的顯微鏡有四個特殊的光學組件：起偏器、檢偏器、一對帶滑行器的DIC棱鏡（金相DIC只需一個DIC棱鏡），并且搭配專門的DIC物鏡進行微分干涉觀察。
當我們用普通明場顯微鏡觀察屏幕水晶膜樣品損傷部位時，屏幕水晶膜樣品損傷部位輪廓結構看不清晰，且樣品的反差效果不明顯，難以找到屏幕水晶膜的損傷部位，而我們利用明美微分干涉顯微鏡MJ43+MC50-S相機觀察屏幕水晶膜損傷部位時，如圖一、圖二所示，我們可以很清晰的看到屏幕水晶膜的損傷部位的輪廓結構，且其結構邊緣有很好的反差效果，使屏幕水晶膜樣品損傷部位呈現出很好的立體浮雕的感覺，細節非常清晰明了。
明美是國家高新技術企業，創立至今已20年，專注于顯微鏡以及顯微成像系統產品的研發、生產和銷售，致力于顯微成像領域的自動化、數字化、智能化；明美迄今已為全球10萬+的用戶提供過產品以及服務;明美曾屢獲國家創新基金支持，被廣東省科技廳認定為顯微成像工程技術研究。
來源：https://www.mshot.com/article/1686.html