金相顯微鏡用于電鏡樣品初期篩選
發布時間:2022-05-09

金相顯微鏡,是一種高倍透反射觀察顯微鏡;一般金相顯微鏡主要運用在不透明樣品的觀察和使用,例如金屬表面的高倍分析、金相組織的觀察、化工粉末、高分子材料觀察、電鍍鍍層、涂層厚度觀察、PCB切片/LED芯片、IC芯片等觀察分析等這些都是金相顯微鏡反射(也就是反射光觀察的樣品),透射光的觀察的樣品一般為半透明或者透明的,例如:ITO導電玻璃、薄膜、中藥/飲片或者粉末等樣品觀察。
金相顯微鏡可分為正置和倒置兩種,常見金相顯微鏡用可見光作為光源,根據使用者需求,可增加熒光光源實現熒光觀察。附加顯微鏡攝像頭和分析軟件,可對觀察結果進行拍照保存、對比、測量和數據分析。
日本東京大學材料學院老師此次選用金相顯微鏡MJ42做電鏡樣品(材料)初期篩選,倒置金相顯微鏡MJ42操作簡便,檢測快速,快速出結果,且結果易觀察;重復性好,空間定位準確;主要應用于金相組織及表面形態的顯微觀察,是金屬學、礦物學、材料學研究的理想儀器。
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