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薄膜自動測厚儀一種適用于0-2mm(其他量程可定制)的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量的儀器.
主要參數：
其他名稱：全自動薄膜測厚儀
儀器型號：CHY-U
測量范圍:0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 :0.1um
測量速度:10 次/分（可調）
測量壓力:17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）
接觸面積:50mm2（薄膜），200mm2（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種
進樣步矩:0 ～ 1300 mm(可調)
進樣速度 :0 ～ 120 mm/s(可調)
外形尺寸:450mm×340mm×390mm
重量:23kg
應用范圍：
薄膜自動測厚儀主要對薄膜、鋁箔、太陽能硅片、紙張紙板的厚度測量等，具體內容如下：
（1）用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質材料厚度精確測量。
（2）對金屬箔片等硬質材料厚度精確測量。
（3）接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值
（4）通過調節測量頭可完整紙張規定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測試。
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