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上海奧析科學儀器有限公司
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更新時間：2024-08-30 12:04:21瀏覽次數：1997評價
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測鍍層X熒光光譜儀
X射線熒光光譜儀EDX2880B
產品分類品牌分類
產品簡介
詳細介紹
測鍍層X熒光光譜儀 規格：
1.元素分析范圍:硫-鈾（S-U）
2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%
3.zui低檢出限：1PPM
4.鍍層檢驗厚度：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）
5.樣品腔尺寸：150*120*50（MM)
測鍍層X熒光光譜儀 應用領域：
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環保檢測
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