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Phase II PTG-3550涂層測厚儀特點:
用此良好的厚度測量儀，利用其一個內置探頭或我們提供的一個自動探測的外接探頭，您可以方便的測量磁性基體（金屬）上非磁性涂層的厚度或非磁性導電基體（非金屬）上非導電涂層的厚度。
Phase II PTG-3550可被用于很多行業領域包括制造業，通用機械工業，商檢等。
Phase II PTG-3550涂層測厚儀技術參數:
測量范圍:0-1250µ mzui大
分辨率: 0.1µ m（0-99µ m）或1µ m （大于 100µ m）
精確度: 一點校準后: +/- 1-3%n 或 2µ m
顯示屏:4位
zui小測量范圍: 5mm x 5mm
zui小曲率半徑: 3mm
凹深:30mm
zui小基體厚度:金屬: 0.5mm
非金屬: 50 µ m
校準:零點校準
箔校準
被測物體zui大表面溫度:150℃（zui長接觸時間為2秒）
電源:4節AA電池
外形尺寸: 161 x 69 x 32mm
重量:260g
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