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 Phase II PTG-3500涂層測(cè)厚儀特點(diǎn):

  用此良好的測(cè)厚儀，利用其一個(gè)內(nèi)置探頭或我們提供的一個(gè)自動(dòng)探測(cè)的外接探頭，您可以方便的測(cè)量磁性基體（金屬）上非磁性涂層的厚度或非磁性導(dǎo)電基體（非金屬）上非導(dǎo)電涂層的厚度。

        Phase II PTG-3500可被用于很多行業(yè)領(lǐng)域包括制造業(yè)，通用機(jī)械工業(yè)，商檢等.。 

 

 Phase II PTG-3500涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
      測(cè)量范圍:0-1250µ mzui大

      分辨率: 0.1µ m（0-99µ m）或1µ m （大于 100µ m）

      精確度: 一點(diǎn)校準(zhǔn)后: +/- 1-3%n 或 2µ m
      顯示屏:4位

      zui小測(cè)量范圍: 5mm x 5mm

      zui小曲率半徑: 3mm

      凹深:30mm

      zui小基體厚度:金屬: 0.5mm

      非金屬: 50 µ m

      校準(zhǔn):零點(diǎn)校準(zhǔn)

      箔校準(zhǔn)

      被測(cè)物體zui大表面溫度:150℃（zui長(zhǎng)接觸時(shí)間為2秒）

      電源:4節(jié)AA電池

      外形尺寸: 161 x 69 x 32mm

      重量:260g