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利利普推出ORF5600近場探頭套件匹配頻譜儀使用
OWON利利普近期新推出ORF5060近場探頭用于配合OWON全系列頻譜分析儀進行EMI電磁干擾測量，
可用來檢測元器件表面的磁場強度、磁場耦合通道以及電子模塊附近的磁場環境，
從而快速定位和分析電磁干擾源。
頻率 | |
頻率范圍 | 1MHz-6GHz |
端口類型 | |
端口形式 | SMA型 |
轉接器 | N-SMA |
射頻線纜 | SMA-J-SMA-J-1000mm半柔線纜 |
端口及轉接器阻抗 | 50Ω |
一般技術規格 | |
工作溫度 | 0℃-50℃ |
存儲溫度 | -20℃-70℃ |
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