- 通用測試儀器
-
調節器 測試電纜 測試儀 光纖認證儀 測試平臺 測試頭 映射器 采樣示波器模塊 穩定光源 背反射器 瞬斷器 檢測器 激光鎖 損耗計 反射計 可調諧濾波器 電氣遠程采樣頭模塊 偏振態光學測試儀 階段參考模塊 光采樣模塊 寬帶光源 精密反射儀 參考發射模塊 混合信號 函數發生器 全自動RIE反應離子刻蝕機 掃描電鏡納米壓痕儀 濕法刻蝕顯影機 三維X射線顯微鏡 原子力顯微鏡 分光光度計 真空離子規模塊 光學氣體熱像儀 多功能酶標儀 萬用表 便攜式分析儀 矢量測試儀 波形發生器 微波網絡分析儀 主頻標準 偏置網絡 矢量網絡分析儀 可調諧激光源 網絡測試儀 噪聲系數分析儀 光時域反射計 阻抗分析儀 偏振光源 式紫外線標準8頭點光源固化設備 電機 脈沖中等電流源表模塊 光波測量系統 光通訊測試儀器 數字電視測試儀器 信號分析儀 信號發生器
- 其它儀器
-
電阻計 靜電放電模擬器 光纖切割刀 數據采集器模塊 重涂機 電壓計 耐壓測試儀 應用模塊 功率分配器 恒電位儀 / 恒電流儀 射頻頻率計數器 超級兆歐表 EMI測試接收機 模塊 信號質量分析儀模塊 靜電計 光發射機 偏振綜合儀 多通道系統 光波測試系統 光功率傳感器模塊 短距離接收器模塊 穩壓電源 高速點膠機 光學熱臺 高低溫試驗箱 超高溫熱臺 地質冷熱臺 氣相色譜儀 雙連接閂鎖套件 幀控制器 熔接機 音頻分析儀 雙激光軸板 光電時鐘恢復 光電時鐘恢復模塊 TDA系統 衰減器 可編程曲線跟蹤器 數字萬用表 光衰減器 電模塊 光模塊 光纖熔接機 其它 校準源 半導體與晶體管測試 噪聲與干擾 半導體參數分析儀 協議分析儀
- 通用儀器
-
多路轉接器單元 電池測試儀 記錄儀 測試模塊 比特分析儀 模塊分析儀 光學套件 示波器校準儀 自動校準單元 功率反射儀 連接器 檢查器 監視器 探測器 調制器 干涉儀 光電模塊 質譜儀 光波萬用表主機 分析儀 激光打標機 功率和能量計接口 光纖端面檢測儀 噪聲源 模擬器 納伏表 銣頻率標準 FET 輸入前置放大器 系列銅纜認證儀 電動物鏡轉盤套裝 直流電壓變送器 示波器探頭 去加重信號轉換器 系統顯微鏡 頻譜分析儀合成 合成掃描發生器 無線通信測試儀 無線電通信測試儀 光功率計模塊 偏振控制器 光功率計主機 光開關 可調諧激光器 無線電測試套件 倒置顯微鏡 機械校準套件 電子校準件 數字源表 高性能嵌入式控制器 開關矩陣主機 功能多產品校準器 LCR表 脈沖發生器 單端接多路復用器 采集模塊 測量主機和模塊 電橋 功率傳感器 電源 測試設備 功率計 通信測試儀 動態信號分析儀 參考發射機 功率分析儀 數據采集卡 熱電偶功率傳感器 脈沖函數任意噪聲發生器 皮安表 電子負載模塊 電源測量單元 高精度脈;中模塊 半導體器件參數分析儀 多端口測試儀 機箱 光譜分析儀 寬帶示波器主機 探頭與附件 數據采集與控制器 電源與負載 音頻與視頻 頻率計 測量儀表 阻抗分析儀與LCR表 示波器 信號源 光波原件分析儀
- Agilent/安捷倫
- 其他品牌
- KEYSIGHT/美國是德
- TeKtronix/美國泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- EXFO/加拿大
- FLUKE/福祿克
- YOKOGAWA/日本橫河
- Keithley/美國吉時利
- Anritsu/安立
- SRS/斯坦福
- ADCMT/愛德萬
- 美國力科
- HIOKI/日本日置
- FUJIKURA/藤倉
- OLYMPUS/奧林巴斯
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- Newport/美國
- Ceyear/思儀
- Bristol/美國
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- Bruker/布魯克
- 古河蓄電池
- RIGOL/普源
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- HP/惠普
- SIGLENT/鼎陽
- XINGZHOU/興洲
- HACH/哈希
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺灣儀鼎
- UNI-T/優利德
- BIRD/美國鳥牌
- SPIRENT/思博倫
- Chroma/致茂
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- TIMEPOWER/時代新維
- 智云達
- Ophir
- 中國臺灣博計
- EEC/中國臺灣華儀
- Siemens/西門子
- AP（Audio Precision）/美國
- 同惠電子
- HAMEG/德國惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學
- KEYENCE/基恩士
- LitePoint/萊特波特
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP