產品簡介：
Burleigh WA-1100光波長計采用基于邁克爾遜干涉計的W**波長計技術，通過將被測光信號的干涉條紋圖與內置的HeNe激光波長標準相比較，確定被測光信號的波長。
WA-1100波長光學波長計可提供zui精度的波長測量和同時的功率測量，并且專為表征制造環境中的WDM組件而設計。
這些系統采用了Burleigh業已證明的基于邁克爾遜干涉儀的掃描型Wavemeter技術，通過將其干涉條紋圖案與內置HeNe激光波長標準的干涉條紋圖案進行比較，來確定測試激光的波長。與其他波長計不同，要考慮所有可能影響波長測量的因素，以使WA-1100達到±1 ppm的zui高波長精度。
為了提供對WDM組件的更完整分析，這些波長表可同時測量光輸入信號的總功率。此外，漂移功能可自動監測波長或功率的任何變化，并隨時間變化。顯示電流值及其與測量起點的偏差，以提供測試激光器的實時狀態。還報告了大值和小值以給出在測量過程中達到的極限。
主要特征：
范圍:700 - 1650 nm (181 - 428 THz)。
準確度:±1.5 pm。
顯示分辨率:0.001 nm。
準確度:±0.5 dB(1310和1550 nm處±30 nm處)。
功率分辨率:0.01 dB。功率線性:±0.3 dB。
功率顯示分辨率:0.01 dB。
光學輸入信號靈敏度:-30 dBm(0.1圀),1200 - 1600海里;-20年dBm(1.0圀),700 - 1650 nm。大輸入電平(所有線路的總和):+ 10 dBm (10 mW)。
測量周期:0.1秒(10次/秒)。
儀器接口:GPIB (IEEE-488.2)， RS-232, LabVIEW, LabWindows
化工儀器網