- 可用于全部正向和反向測量的內裝S-參數測試裝置，使您能通過一次連接全面評測元件
- 優異的精度，經過zui全面的校準
- 可選時域和掃描諧波測量
- 用頻率偏置能力作混頻器測試
- 可選步進衰減器，以擴展源輸出功率范圍
- 通過/失敗測試，內插誤差校正，測試序列和用戶定義測試頻率，以提高生產能力
- 2個獨立的顯示通道，以同時測量反射和傳輸特性
- Agilent/安捷倫
- 其他品牌
- KEYSIGHT/美國是德
- TeKtronix/美國泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- EXFO/加拿大
- FLUKE/福祿克
- YOKOGAWA/日本橫河
- Keithley/美國吉時利
- Anritsu/安立
- SRS/斯坦福
- ADCMT/愛德萬
- 美國力科
- HIOKI/日本日置
- FUJIKURA/藤倉
- OLYMPUS/奧林巴斯
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- Newport/美國
- Ceyear/思儀
- Bristol/美國
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- Bruker/布魯克
- 古河蓄電池
- RIGOL/普源
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- HP/惠普
- SIGLENT/鼎陽
- XINGZHOU/興洲
- HACH/哈希
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺灣儀鼎
- UNI-T/優利德
- BIRD/美國鳥牌
- SPIRENT/思博倫
- Chroma/致茂
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- TIMEPOWER/時代新維
- 智云達
- Ophir
- 中國臺灣博計
- EEC/中國臺灣華儀
- Siemens/西門子
- AP（Audio Precision）/美國
- 同惠電子
- HAMEG/德國惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學
- KEYENCE/基恩士
- LitePoint/萊特波特
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP
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