頻率范圍：頻率范圍為 5Hz 至 200MHz，能夠覆蓋音頻、基帶和中頻等較低頻率范圍，適用于多種低頻電路和器件的測試。

測量精度與分辨率：具有高分辨率，幅度分辨率為 0.001dB，相位分辨率為 0.005°，時延分辨率為 1ps，頻率分辨率為 0.001Hz，可實現高精度的測量。

測量功能：可測量幅度 / 相位、插入損耗、群時延、駐波比、電長度和增益壓縮等參數。搭配 35676A/B 反射 / 傳輸套件，還能測量回波損耗、反射系數和阻抗。

顯示模式：具備多種顯示模式，包括幅度、相位、極坐標、實部、虛部和群時延等，方便用戶根據不同的測量需求和分析角度來選擇合適的顯示方式。

誤差修正與校準：內置三項誤差修正和歸一化功能，能夠提高測量的準確性和可靠性，減少系統誤差對測量結果的影響。

接口與編程：配備惠普接口總線（HP - IB），可方便地與其他儀器設備進行連接和通信，實現自動化測量系統的構建。通過可選的 HP Instrument BASIC，該儀器可執行用戶編寫的程序，用于自動化測量系統、計算參數或定制用戶界面。后板上的可編程 I/O 端口可將控制擴展到非 GPIB 設備。

源輸出特性：源輸出功率范圍為 - 49dBm 至 + 15dBm，輸出阻抗為 50 歐姆，具有良好的信號輸出能力，可滿足不同被測器件對激勵信號的要求。

物理特性：尺寸為 222mm×426mm×578mm，重量約為 30.4kg。