當前位置:湖南艾克賽普測控科技有限公司>>技術文章>>解析X射線衍射儀的工作原理和結構組成
解析X射線衍射儀的工作原理和結構組成
X射線衍射儀利用衍射原理精確測量材料的晶體結構、紋理和應力,并精確進行相分析、定性分析和定量分析。廣泛應用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。
X射線衍射儀的工作原理:
X射線的波長接近晶體內部原子平面之間的距離。該晶體可用作X射線的空間衍射光柵。也就是說,當一束X射線照射到物體上時,它會被物體中的原子散射,每個原子都會產生散射波。這些波相互干擾,導致衍射。衍射波的疊加使得射線的強度在某些方向上增強,而在其他方向上減弱。通過分析衍射結果可以獲得晶體結構。
對于晶體材料,當待測晶體和入射光束處于不同角度時,將檢測到滿足布拉格衍射的那些晶面,這些晶面在XRD圖案中被反射為具有不同衍射強度的衍射峰。對于非晶材料,由于晶體結構中沒有原子排列的長程序,但在幾個原子范圍內有短程序,因此非晶材料的XRD光譜是一些擴散散射饅頭峰。
X射線衍射儀的結構組成:
(1)高穩定性X射線源提供測量所需的X射線。改變X射線管的陽極靶材料可以改變X射線的波長,調整陽極電壓可以控制X射線源的強度。
(2)樣品和樣品位置和取向的調節機制樣品必須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
(3)X射線檢測器同時檢測衍射強度或衍射方向,多晶衍射圖案數據可以通過儀器測量和記錄系統或計算機處理系統獲得。
(4)衍射圖樣處理和分析系統現代X射線衍射儀配備了配備有專用衍射圖樣分析和處理軟件的計算機系統,具有自動化和智能化的特點。