比表面積儀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
金埃譜科技是比表面積儀,比表面積測(cè)試儀,比表面積分析儀,比表面積測(cè)定儀,孔徑分析儀,孔隙率測(cè)定儀,比表面儀和微孔分析儀,孔徑分布測(cè)試儀,比表面及孔隙度分析儀國(guó)產(chǎn)實(shí)現(xiàn)真正*自動(dòng)化智能化測(cè)試技術(shù)的*和者,多項(xiàng)*技術(shù)已成為業(yè)內(nèi)廠商仿效*
比表面積儀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
1)簡(jiǎn)潔緊湊的外觀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),節(jié)省空間;可拆卸前面板防護(hù)罩,有效防止液氮濺灑安全隱患,同時(shí)降低環(huán)境因素對(duì)比表面積測(cè)量過(guò)程的影響
2)采用全不銹鋼管路系統(tǒng),提高密封性能,有效防止氣體分子滲透導(dǎo)致的比表面積測(cè)量誤差;同時(shí)不銹鋼管不存在老化問(wèn)題,可靠性和壽命大大提高
3)模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),有利于根據(jù)用戶比表面積測(cè)量需求按需配置及后期功能擴(kuò)展