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紫外近紅應(yīng)用-薄膜測量

閱讀:3559      發(fā)布時間:2014-8-20
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實(shí)驗(yàn)三  紫外可見反射薄膜測量

目的:研究薄膜的光學(xué)透射性能

檢測:不同金屬薄膜在紫外可見近紅外的光譜  

原理:研究薄膜的光學(xué)透射性能以及均勻性

試驗(yàn)方法:

采用紫外可見近紅外分光光度計(jì)中波長掃描方式,做基線,后測定樣品

測定出不同的金屬氧化物薄膜在紫外可見區(qū)光學(xué)性能不同

圖表 1 不同位置反射率

 

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