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芯片加速老化試驗箱

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具體成交價以合同協議為準
  • 型號 ZK-PCT-65L
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 東莞市
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更新時間:2021-11-10 09:58:34瀏覽次數:981

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產品簡介

產地類別 國產 應用領域 電子,冶金,航天,電氣,綜合
芯片加速老化試驗箱用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測,相關之產品作加速壽命試驗,高壓壽命老化箱,三綜合試驗機(精密設備生產,質量保證可靠)。

詳細介紹


一、芯片加速老化箱用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測,相關之產品作加速壽命試驗,高壓壽命老化箱,三綜合試驗機。


二、芯片加速老化箱特點

1.不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準, 可防止試驗中結露滴水設計。

2.圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

3.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續200h。

4.自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設計,箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。

5.箱內壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,可延長packing壽命。

6.實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內之純凈度。

7.臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。


三、半導體高溫高壓試驗機技術參數

型 號:

ZK-PCT-25

ZK-PCT-35

ZK-PCT-45

ZK-PCT-65

內部尺寸(W×H×D)mm:

Φ250×300

Φ300×450

Φ450×500

Φ600×650

外箱尺寸(W×H×D)mm:

500×500×700

580×850×650

800×750×900

950×900×1100

使用溫度:

121℃;132℃;(143℃特殊選用)

使用濕度:

100%RH飽和蒸氣濕度

使用蒸氣壓力(壓力):

1個環境大氣壓 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2屬于特殊規格)

循環方式:

水蒸氣自然對流循環

安全保護裝置:

缺水保護,超壓保護、 (具有自動/手動補水功能,自動瀉壓功能)

配 件:

不銹鋼隔板兩層

電 源:

AC220V,50/60Hz/AC380V , 50/60Hz


四、芯片加速老化箱執行與滿足標準

1.GB/T10586-1989濕熱試驗室技術條件。

2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗。

3.MIL-STD810D方法502.2。

4.GJB150.9-8溫濕試驗。

5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環試驗。


公司主營產品:冷熱沖擊試驗箱、恒濕恒濕試驗箱、高低溫試驗箱、步入式溫濕交變試驗室、高低溫濕熱交變試驗機、高溫老化房、快速溫變試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、pct測試儀 、中科pct測試設備、紫外線耐候老化試驗箱、氙燈耐候老化試驗箱、耐寒折彎試驗箱、砂塵試驗箱、淋雨試驗箱、臭氧老化試驗箱、換氣老化試驗箱、恒溫鼓風干燥試驗箱、太陽光伏組件試驗箱、振動試驗機、跌落試驗機、拉力試驗機等可靠性試驗設備以及定做非標機型。



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