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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 電子,交通,航天,汽車,電氣 |
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產品簡介
詳細介紹
溫度快速變化測試箱通過溫變速率為15℃/min、20℃/min、25℃/min對半導體、5納米芯片、動力電池模組、光伏組件、汽車配套、5G基站天線、PCB電路板、石墨烯屏幕進行高溫快速溫變試驗、低溫快速溫變試驗，高低溫恒定試驗，使產品在周圍大氣環境溫度急劇變化條件下的適應性試驗及溫度應力篩選試驗。
溫度快速變化測試箱技術參數
1.系統：平衡調溫控制系統（BTC）。
2.循環方式：強制空氣循環。
3.溫度范圍：-40℃～+150℃，-60℃～+150℃，-70℃～+150℃。
4.溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可定制：線性溫變或非線性溫變）
5.溫度波動度：±0.5℃。
6.溫度均勻度：±1.5℃。
7.溫度偏差：≤2℃。
8.負載：5Kg鋁錠，5Kg鋁錠，10Kg鋁錠,20Kg鋁錠,50Kg鋁錠。
9.溫變速率：5℃/分鐘，10℃/分鐘，15℃/分鐘，20℃/分鐘，25℃/分鐘線性快速降溫。
溫度快速變化試驗箱執行與滿足標準
1.IEC68-2-1試驗A。
2.IEC68-2-1試驗B。
3.GJB1032-90環境應力篩選方法。
4.GB2423.1-89試驗A低溫試驗方法。
5.GB2423.2-89試驗B低溫試驗方法。
6.MIL-STD-2164電子產品應力篩選方法。
7.MIL-2164A-19電子設備環境應力篩選方法。
8.GJB234-5.1.6電子產品定量環境應力篩選方法。