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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> SZ-100 動態(tài)光散射納米顆粒分析儀
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貨物所在地：國外
產(chǎn)地：日本
更新時間：2024-12-11 21:00:06
有效期：2024年12月11日 -- 2025年6月11日
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粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）
粒徑測定范圍：0.3nm ～ 8μm
粒徑測量精度：±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）
Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法
Zeta 電位測量范圍：-200 mV ～ +200 mV
分子量測量原理：Debye plot
分子量測量范圍：1000 ～ 2×107 Da
測量角度：90° 和173°（可自動或手動選擇）
樣品量：12μL ～ 1000μL
產(chǎn)品特點(diǎn)
· 同臺儀器可測三種參數(shù)
· 樣品濃度zui大可達(dá)40%
· 樣品量小
· *的樣品池設(shè)計zui小化電滲效應(yīng)
· 軟件操作簡單功能強(qiáng)大，一鍵測量
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