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業界Z激光粒度儀產品，以精確可靠著稱的HORIBA Partica LA-950V2已全新升級為LA-960。
HORIBA系列粒度儀以在亞微米范圍內的*測量能力而聞名，新型號除了保有這一優勢還發展出全新的特性。
HORIBA依據多年經驗，進一步完善數據運算方法，以不斷滿足用戶對更高精度和更高分辨率的追求。
Partica發展成就
業界zui激光粒度儀產品，以精確可靠著稱的HORIBA Partica LA-950V2已全新升級為LA-960。
HORIBA系列粒度儀以在亞微米范圍內的*測量能力而聞名，新型號除了保有這一優勢還發展出全新的特性。
HORIBA依據多年經驗，進一步完善數據運算方法，以不斷滿足用戶對更高精度和更高分辨率的追求。
技術*性能
zui寬的動態測量范圍：0.01-5000微米
HORIBA在寬粒徑范圍測量方面優勢明顯，*的光學布局，采用三維數據模擬生成散射光譜圖，可以與充分考慮到光學組件參數影響的理論計算結果進行比較，從而選擇*的分析方法。
新的運算方法使得20nm的認證樣品的測量成為可能（見下圖）。
性能保證
· 高精度 ±0.6%
· 標準依據ISO13320
· 可溯源支持
用戶*的品質
HORIBA一直專注于儀器zui重要zui關鍵部件的產品質量：光源和檢測器校準。基于高科技研究實驗室和質量控制管理等各種用戶的需求，其循環系統效率高，操作快速，維護簡便。同時我們根據用戶預期用途，分析情況和操作頻率的不同，提供專業的售后。
穩健可靠的光學設計：*的光學系統確保高精度分析
60秒速操作：循環系統能迅速處理任何樣品
Partica發展成就
業界zui激光粒度儀產品，以精確可靠著稱的HORIBA Partica LA-950V2已全新升級為LA-960。
HORIBA系列粒度儀以在亞微米范圍內的*測量能力而聞名，新型號除了保有這一優勢還發展出全新的特性。
HORIBA依據多年經驗，進一步完善數據運算方法，以不斷滿足用戶對更高精度和更高分辨率的追求。
技術*性能
zui寬的動態測量范圍：0.01-5000微米
HORIBA在寬粒徑范圍測量方面優勢明顯，*的光學布局，采用三維數據模擬生成散射光譜圖，可以與充分考慮到光學組件參數影響的理論計算結果進行比較，從而選擇*的分析方法。
新的運算方法使得20nm的認證樣品的測量成為可能（見下圖）。
性能保證
· 高精度 ±0.6%
· 標準依據ISO13320
· 可溯源支持
用戶*的品質
HORIBA一直專注于儀器zui重要zui關鍵部件的產品質量：光源和檢測器校準。基于高科技研究實驗室和質量控制管理等各種用戶的需求，其循環系統效率高，操作快速，維護簡便。同時我們根據用戶預期用途，分析情況和操作頻率的不同，提供專業的售后。
穩健可靠的光學設計：*的光學系統確保高精度分析
60秒速操作：循環系統能迅速處理任何樣品
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