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HORIBA科學儀器事業部

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當前位置:HORIBA科學儀器事業部>>陰極發光光譜儀>> Flex-CLUEFlex-CLUE靈活型CL光譜儀

Flex-CLUE靈活型CL光譜儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號:Flex-CLUE

品       牌:HORIBA/堀場

廠商性質:生產商

產品資料:查看pdf文檔

所  在  地:國外

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更新時間:2024-01-23 16:51:02瀏覽次數:1210次

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靈活型CL光譜儀 儀器簡介: 電子束入射到樣品上,即可用光學方法接收并分析陰發光(CL),從而提供樣品詳細的物理特性。它是一種無損的分析方法,結合電鏡可提供與形貌相關的高空間分辨率光譜結果,是納米結構和體材料的*分析工具。

靈活型CL光譜儀  儀器簡介
   電子束入射到樣品上,即可用光學方法接收并分析陰發光(CL),從而提供樣品詳細的物理特性。它是一種無損的分析方法,結合電鏡可提供與形貌相關的高空間分辨率光譜結果,是納米結構和體材料的*分析工具。
    Flex-CLUE是一款高性能的CL分析儀器,適用于廣泛的應用領域。它基于光纖傳輸,是適用于有限空間的集成化系統。

 

                                  原理圖

靈活型CL光譜儀 主要特點
● 光纖耦合
● 高效CL信號收集
● 掃描成像、線掃描、點測量
● 多種光柵選項
● 多種焦長光譜儀選項:140mm-320mm
● 光譜范圍:200nm-1000nm或400nm-1700nm


重點應用領域
    陰發光光譜儀(CL)是用來表征材料中的缺陷,元素和雜質追蹤的強大分析工具,廣泛適用于各個應用領域。

1、材料科學

● 半導體和光電材料
● 介電/陶瓷   
● 氧化物膜           
● 玻璃
2、礦物、地質
● 碳酸巖       
● 晶體   
● 金剛石    
● 鋯石、方解石、白云石
3、*
4、生命科學


CL光譜及成像

■CL光譜:使用CL測量光譜時,可在電鏡下觀察并選擇待測樣品區域。 ■快速CL成像:將掃描電子束與您的光譜儀同步,提供快速成像方案。使用HCLUE系統測量的GaN樣品,測量中使用了超快SWIFTTM成像模式。

礦物樣品中的白云石和磷酸鈣。測量使用Flex-CLUE系統,配備iHR320光譜儀和開放電式CCD探測器。感謝Prof A. Jambon, UPMC France提供數據


左圖:使用偽彩色顯示350nm-450nm之間發射光譜區。figure 1, Hyperspectral CL mapping
中圖:電鏡下的樣品圖像。figure 2, SE image
右圖:對應的光譜,其中不同色彩區域與左圖中顯示的顏色對應。figure 3, CL spectral (RGB)

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