HORIBA | 貼息貸款儀器 | 輝光放電光譜儀
產品名稱:輝光放電光譜儀
產地:法國
型號:GD-Profiler 2™
01 儀器用途及應用范圍:
GD-Profiler 2™ 配備的射頻源可在脈沖模式下對易碎樣品進行測試,廣泛應用于高校以及工業研究實驗室,其應用范圍有腐蝕研究、PVD 涂層工藝控制、PV 薄膜開發以及LED 質量控制等。
能源/光伏
光伏鍍層沉積工藝
光伏鍍層層間擴散
光伏電池的表面及成分
快速深度剖析
先進功能材料
LED 晶片質量控制
半導體新材料鍍層解析
硬盤、玻璃和陶瓷等表面鍍層分析
鍍鋅鋼板鍍層厚度及成分
彩涂板有害元素測定
監控滲氮滲碳工藝過程
磷化/ 鈍化膜測定等
電池
鋰電池電極/ 電解液材料表征分析
充/ 放電后元素濃度變化
監控電池壽命
專利UFS(超快速濺射)系統用于
負極分析
半導體材料
LED 晶圓鍍層結構質控及研發
VCSEL 芯片鍍層分析
微電子器件鍍層結構分析
逆向工程
02 產品特點:
光譜范圍涵蓋110 nm-800 nm
光譜分辨率低至18 pm~25 pm
專利高動態檢測器HDD(線性動態范圍可達5X109)
專利鍍層厚度測試附件DIP
獨有0.64m 單色儀(選配)可提高設備靈活性,用于全光譜掃描及N+1 通道
軟件集成了標準樣品、譜線波長和濺射速率的數據庫
03 索取樣本、聯系報價
如果您想了解更多關于產品儀器信息、索要儀器報價,歡迎掃描二維碼留言,我們的工程師將會及時與您取得聯系。