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校準ICP光譜儀有幾種方式
電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP-AES)，是以電感耦合等離子矩為激發光源的光譜分析方法，具有準確度高和精密度高、檢出限低、測定快速、線性范圍寬、可同時測定多種元素等優點。
ICP應用行業比較廣泛，在進行操作的時候一定要先進行校準在使用，那么你知道校準的方式有哪些嗎？
一、波長校正的目的是使波長與檢測器象素之間*吻合。分兩步進行：
1、光譜儀校正——調整儀器的偏差
2、漂移補償——克服波長隨時間而變化
(1)光譜校正
對儀器實際測到的波長與理論波長之間的差別進行校正。應在每臺儀器上單獨測試一系列化學元素的波長，并將之儲存為校正數據(一般儲存在計算機中)。
通常存為下列一組數據：調試偏差；相關系數和修正系數。
光譜儀的校正要通過用戶的指令來進行。
(2)漂移補償
這是為克服環境變化，如溫度氣壓等，而引起的波長漂移，所采用的一種常規監視過程。儀器在進樣間歇期間，監測多條氬線波長，將實際值與理論值相比較，并對誤差進行補償。
當儀器第一次安裝時、或軟件重新安裝后，需要進行波長校正。當更換了多色器吹掃氣體類型后，也必須進行波長校長。吹掃氣可為Ar或N2。
二、分析校正(建立標準曲線)的目的是建立光強讀數與元素濃度之間的關系。即對已知濃度的標樣進行測試，建立起其響應值與濃度之間的關系曲線。
在ICP-AES技術當中，濃度與強度之間的關系一般為線性關系。當濃度較高時，與線性關系會有一些偏差，通常強度會稍稍降低，即濃度的兩倍低于強度的兩倍。對有些元素，高濃度的強度會稍微更強一些，使曲線稍微向上彎曲。上彎曲線通常可設置適當等離子體條件來加以克服。
其線性范圍可能會達到4到6個數量級。濃度校正曲線(標準曲線)是*泛采用的一種校正方式。方法是對一系列標準樣品進行測量，得出各個強度/濃度點，再對一個空白進行測量，以得到零濃度值時的強度值。采用數學方法對所得各點進行擬合，得到標準曲線，未知樣品濃度按照該曲線及所測得強度值得出。