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定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于：將激磁次數降至Z少，以提高生產效率；
確定磁場方向和相對的磁場強度；
產品簡介
詳細介紹
I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于：將激磁次數降至zui少，以提高生產效率；
確定磁場方向和相對的磁場強度；
平衡多向磁場。
標準I試片
缺陷成基園和十字交叉條形，用于縱向和軸向磁場。
件號：521048 型號：KSC-430 標準I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸
產品關鍵字：KSC-430 標準I試片