北京慧龍環科環境儀器有限公司
主營產品: 奧立龍水質分析儀,WTW水質分析儀 |
13
聯系電話
18911758155
公司信息
- 聯系人:
- 慧龍環科
- 電話:
- 010-69200960/010-59483667
- 手機:
- 18911758155,18910319870
- 售后電話:
- 18911758156
- 傳真:
- 010-60298459
- 地址:
- 北京市房山區良鄉西潞南大街14號樓
- 郵編:
- 102488
- 個性化:
- www.170086.com
- 手機站:
- m.170086.com
- 網址:
- www.170086.com
產品展示
Product產品圖片 | 產品名稱 | |||
---|---|---|---|---|
YE0161西門子之星測試圖卡 簡單介紹:YE0161西門子之星測試圖卡設計用于調整相機鏡頭和檢查焦距。它由一個位于中心的大型西門子星和位于測試圖角的四個較小的星組成。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
YE04 SineImage條塊測試卡 簡單介紹:YE04 SineImage條塊測試卡為了檢測電視攝像機的中級和深度頻率的傳輸特性而設計的。在測試卡上部4條不同長度的黑色水平條塊被分布白色背景上。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE280紋理損失測試卡ISO19567 簡單介紹:TE280紋理損失測試卡ISO19567用于分析“紋理損失",這是由于噪聲降低或其他圖像處理技術導致的圖像中低對比度,精細細節的損失。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE276彩色枯葉圖 簡單介紹:TE276彩色枯葉圖用于分析“紋理損失",這是由于降噪或其他圖像處理技術導致的圖像中低對比度,精細細節的損失。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE274微距測試卡 簡單介紹:TE274微距測試卡設計用于分析在微距模式下單反相機系統以及小型相機的微距鏡頭的分辨率和失真。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE271 3D校準測試卡 簡單介紹:TE271 3D校準測試卡用于對齊和調整攝像機進行3D拍攝。2D和3D結構的*組合允許簡單和直接的準備您的立體攝像機設置。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE266 微縮膠片測試卡DIN 19051 簡單介紹:TE266 微縮膠片測試卡DIN 19051提供了一個校準微縮膠片生產鏈的測試卡。 它們可以安裝在塑料背板上,放在桌子上或懸掛在任何可用的安裝裝置上。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE265 枯葉圖 簡單介紹:TE265 枯葉圖用于分析“紋理損失",這是由于降噪或其他圖像處理技術導致的圖像中低對比度,精細細節的損失。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE258 IT8掃描儀特征測試卡 簡單介紹:TE258 IT8掃描儀特征測試卡設計用于掃描儀,它適合為掃描儀創建顏色管理配置文件。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE255 shading/vignetting測試卡 簡單介紹:TE255 shading/vignetting測試卡是一種非常精確和中性的透射玻璃板,與積分球或燈箱組合使用。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE249 微距功能測試卡 簡單介紹:TE249 微距功能測試卡設計用于測試相機鏡頭系統的微距功能。類型:反射式/透射式 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE246 四象限扇形星測試卡 簡單介紹:TE246 四象限扇形星測試卡由四個象限組成,每個象限具有不同的周期數。 因此,可以將廣角和遠攝位置聚焦以用于聚焦點的調整。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE239 HDTV調制深度測試卡 簡單介紹:TE239 HDTV調制深度測試卡設計用于檢查HDTV攝像機的調制深度的頻率響應和調制深度的均勻性。測試卡由19個多脈沖串組成,分布在16:9的圖像區域。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE237 高分辨率扇形星測試卡 簡單介紹:TE237 高分辨率扇形星測試卡用于檢查整個圖像區域的分辨率。它由72(黑色和白色)扇區的扇形星組成。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE236 鏡頭呼吸效應測試卡 簡單介紹:TE236 鏡頭呼吸效應測試卡設計用于測量鏡頭呼吸效應。 這意味著僅通過改變聚焦點來改變鏡頭的焦距(場景的再現比例)。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE231 頻率響應測試卡 簡單介紹:TE231 頻率響應測試卡設計用于檢查高清攝像機的頻率響應。測試卡顯示在100至1200線的整個圖像區域上的線光柵。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE220后焦距測試卡(36周期) 簡單介紹:TE220后焦距測試卡(36周期)專為調整相機鏡頭和檢查焦距而設計。 它由一個大的西門子星在中心和位于測試圖的角落的四個較小的組成。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE218相機自動對焦測試儀(IEC61146) 簡單介紹:TE218相機自動對焦測試儀(IEC61146)用于檢查相機的自動對焦系統它由兩種不同尺寸的西門子之星組成。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE217 亮度/色度偏移測試卡(IEC61146) 簡單介紹:TE217 亮度/色度偏移測試卡(IEC61146)描述亮度和色度通道之間的時間差。時間差必須在輝度的50%幅度點和色度轉換點之間測量,兩個信號來自相同的測試模式。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 | |||
TE215 光暈效應測試卡(IEC61146) 簡單介紹:TE215 光暈效應測試卡(IEC61146)設計用于測量電子攝像機的光暈效應。 測試卡由黑色背景上一個小矩形窗口組成。 產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2022-11-20 |
參考價: 面議 詢價留言 |