HT-YB-I玉米表型檢測儀

1.1 簡介

   高桿植物表型檢測系統又稱 玉米表型檢測系統可一鍵檢測分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、玉米株高、莖稈節間距和基粗葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數。儀器可廣泛用于各農科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究！對遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態建模、生長研究等方面起到重要作用。

1.2 高桿植物表型檢測系統 適用范圍：

1、玉米株型適用于室內盆栽的玉米

2、玉米株高適用于大田玉米株高測量

3、千粒重適用于室內考種測量

1.3 測量誤差

1、株高測量范圍: 300-3800mm 精度: 0.5%

2、玉米株型:測量范圍:0-1.8m，株高準確度: 1%，角度參數精度: 3%，其他參數準確度:5%

3、數粒精度誤差: 2%，修正后可達100%

1.4 硬件配置

1、手機支架:       用于手機固定拍攝

2、背景布:          黑色磨砂布面

3、背光板:        超薄發光板

4、數據采集器:     超大彩色屏手機

5、玉米株高測量桿: 移動測量式標定桿