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| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 其他 | 應用領域 | 化工,石油,建材/家具,航空航天,電氣 |
主要用途有:
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
產品簡介
詳細介紹
CSK-IA超聲波探傷儀標準試塊
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的
主要用途有:
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;
5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
CSK-IA超聲波探傷儀標準試塊
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的
主要用途有:
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;
5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;
5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;
5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;
5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。