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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
GUT-6000B是一款臺(tái)式數(shù)字IC測(cè)試儀。可測(cè)試1800多種常見的TTL和CMOS器件，真正在數(shù)字IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案。
l 循環(huán)測(cè)試
l 自動(dòng)搜尋
l 自我診斷
l 過載保護(hù)
l 測(cè)量1800種設(shè)備
l 支持54/74系列TTL
l 支持4000和5000系列CMOS
l 測(cè)試管腳：28 pin
測(cè)試范圍 | ||
| 54/74 系列 TTL | |
4000 及 4500 系列 CMOS | ||
DRIVE | ||
量測(cè)種類 | ||
| 約 1800 種 | |
測(cè)試電壓 | ||
| 2.5/3.0/3.3/5V DC | |
測(cè)試時(shí)間 | ||
| 高測(cè)試速度，平均 0.6 秒可完成一個(gè) IC | |
使用電源 | ||
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz | |
尺寸及重量 | ||
| 335（寬） x 105（高） x 300（長(zhǎng)） mm | |