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大氣壓氣相色譜電離源APGC - 無需犧牲數據質量的新型氣質技術

沃特世大氣壓氣相色譜電離源（APGC）為當今*的MS技術增添了新的氣質功能。

它可以幫助GC用戶實現：

• 高效、便捷地提高分析通量

• 超痕量定量

• 高質量的MS和MS/MS數據

• 高分辨離子淌度分離

優勢：沃特世APGC為GC用戶帶來了*的*MS技術，無論您需要對復雜樣品進行超痕量定量，還是進行完整的UPLC、UPC2和GC篩查，以獲取全部樣品信息，APGC都能滿足您的需求。

為當今*的MS技術增添新的氣質功能

APGC可為Xevo和SYNAPT質譜儀提供電離源。這是一種軟電離源，也就是說：對于許多化合物而言，這種電離與諸如EI等技術相比，得到的碎片較少。減少碎片數量，可以提高靈敏度和特異性，很容易得到MS/MS分析中的母離子信息。

基于沃特世通用離子源結構和工程精簡（Engineered Simplicity）的設計理念，從UPLC到GC的切換就變得十分快速與簡便。APGC并不是一種需要真空的技術，因此這兩種技術切換后的平衡時間可以壓縮到zui短。這意味著用戶可以根據業務需求選擇分析方法，從而使儀器的正常運行時間和利用率達到zui大化。

現在氣質分析也可以采用沃特世*的*質譜技術，例如RADAR、MSE和HDMS等。解開樣品中蘊藏的秘密，確保您的分析能得到更多的信息。

Xevo TQ-S與APGC結合 - 超痕量定量

Xevo TQ-S /APGC配備了*的StepWave™技術，可以實現超痕量級檢測。這樣，在符合規定限值的同時，還可以減少樣品基質的注入，降低對氣質系統的污染，從而延長儀器正常運行時間。這種*的源設計可以提供更高的基質耐受性和出色的進樣重復性。StepWave離子傳輸光學設備和檢測技術可以在zui大動態范圍內進行準確和精密的定量。

Xevo G2-S QTof與APGC結合 - 利用GC進行更大范圍的化合物鑒定、定量和確認

許多分析都需要交叉使用LC和GC。沃特世 Xevo G2-S QTof可通過ACQUITY UPLC和GC分離，對樣品進行完整的篩查。MSE可以為科學家提供樣品中每一種可檢測成分的母離子和碎片離子的精確質量譜圖，簡化了成分鑒定的過程。

QuanTof結合了創新的幾何學和離子檢測系統，可以增強靈敏度、提供出色的色譜/質譜分辨率，以及在質譜分析動態范圍內的基質耐受性、定量性能和質量數準確度。

Xevo G2-S QTof經過專門設計，可以滿足科學家在zui復雜和挑戰性的樣品環境中進行zui大范圍的化合物鑒定、定量和確認的需要。

SYNAPT G2-Si與APGC結合 - 為氣質提供研究級的高分辨離子淌度分離

APGC可以為GC用戶提供*的高水平的研究級高分辨離子淌度分離，并具備一系列*的實驗功能，能夠獲得*其它分析平臺的新發現。

這種精確質量數、分離度和離子淌度的結合，可實現*的選擇性水平，提供*的樣品信息完整度。

利用高效的T-Wave離子淌度分離技術，有助于實現優異的分離效果，為您的分析增添更多的維度。這些前沿技術的結合，可以提供比以往更廣泛的實驗選擇范圍，讓您能夠zui大程度地獲取樣品信息。