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產品簡介
詳細介紹
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用化學鍍金測厚儀Thick800A對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度,七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試
銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖
樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
吊扣 | 100 | 19.321 |
吊扣2# | 100 | 19.665 |
吊扣3# | 100 | 18.846 |
吊扣4# | 100 | 19.302 |
吊扣5# | 100 | 18.971 |
吊扣6# | 100 | 19.031 |
吊扣7# | 100 | 19.146 |
平均值 | 100 | 19.18314 |
標準偏差 | 0 | 0.273409 |
相對標準偏差 | 0 | 1.425257 |
銅鍍鎳件測試值
結論
實驗表明,使用XRF鍍層測厚儀對鍍件膜厚測試,結果準確度高,速度快(幾十秒),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。
天瑞儀器有限公司生產的電鍍鍍層測厚儀在電鍍檢測行業中, 針對上述五項需求的應用:
(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析;
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測,檢測環境里的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速:1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,并達到測量精度要求。
方便:X熒光光譜儀部分機型采用電制冷半導體探測器,能量分辨率更優于135eV,測試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損:測試前后,樣品無任何形式的變化。
直觀:實時譜圖,可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高:由于測試過程無人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以,其測量的可靠性更高。
滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統軟件,操作方便、功能強大,軟件可監控儀器狀態,設定儀器參數,并就有多種良好的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高:相比化學分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的,可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易:對人員技術要求較低,操作簡單方便,并且維護簡單方便