EDX3600KX熒光光譜儀

國產XRF系列光譜儀儀器配置

鈹窗電制冷SDD探測器

自旋式樣品腔

高效超薄窗X光管

信噪比增強器SNE

超近光路增強系統

可自動開啟的測試蓋

自動切換型準直器和濾光片

真空腔體

自動穩譜裝置

90mm×70mm的液晶屏

良好的數字多道技術

多變量非線性回歸程序

相互獨立的基體效應校正模型

國產XRF系列光譜儀技術參數

型號：EDX3600K

X射線源：50KV、1mA

樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm

分析方法：能量色散X熒光分析方法

測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量

檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素

含量范圍：ppm～99.99%

檢測時間：10秒以上

檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末

探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV

激發源：銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇

攝像頭：高清攝像頭

測井環境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以

準直器和濾光片：四組準直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換

自旋裝置：可調速的自旋裝置

檢出限：對樣品中的大多數元素來說，檢出限達5～500ppm

真空系統：超真空系統，10秒可到10Pa

數據傳輸：數字多道技術，快速分析，高計數率

測試臺：360°電動旋轉式

保護系統：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成

樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環，可防止樣品晃動

數字多道技術：計數率>50kcps，有效計數率高至500kcps

外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG

操作環境濕度：≤90%

操作環境溫度：15℃～30℃

應用領域

天瑞儀器的產品廣泛應用于食品、醫藥、紡織、大氣、電子、土壤、鋼鐵、機械、五金、礦山、航空工業等企業，以及高校、環保局、質檢局等政府部門。