相關術語

1.精密度

定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度就是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關的，測量的時間越長，則精度越高。

2.重復性

定義為儀器測同一款樣品的連續(xù)測試十一次或二十一次的相對標準偏差。

3.準確度

定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準確度也一定差。反之，準確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準確度都要求高。

4.目

顆粒度大小的直徑，200目=74um5. 誤差

X射線熒光光譜分析儀的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計漲落引起的誤差作為測量的誤差。

6.檢出限（Limit of detection）

獲得背景強度標準偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量，就稱為檢出限（或叫檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測定檢出*，一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。

7.計數(shù)統(tǒng)計誤差    

 在放射性物質的測量中，假設儀器穩(wěn)定性、機械在現(xiàn)性可確保，由儀器機械產生的誤差可以忽略不計，但計數(shù)統(tǒng)計誤差還是不能消除。X射線強度是把入射到計數(shù)器上的光子變成脈沖后計數(shù)而得到的。因而計數(shù)值在本質上具有統(tǒng)計誤差。 被測X射線的計數(shù)值（N）的分布屬于隨機事件，其標準偏差由 N求出。 N就叫統(tǒng)計誤差。時間越長，則相對偏差就越小，即精度就越高。 

技術參數(shù)

產品名稱：X射線熒光光譜分析儀

型號：EDX3600K型

X射線源：50KV、1mA

樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm

分析方法：X射線熒光光譜法

測量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量，根據(jù)客戶需求配置相應軟件

檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素

含量范圍：ppm～99.99%

檢測時間：10秒以上，全程電腦操作

檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末

探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV

激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇

攝像頭：高清攝像頭，測試過程可觀測

測井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以

準直器和濾光片：四組準直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換

自旋裝置：可調速的自旋裝置

檢出限：對樣品中的大多數(shù)元素來說，檢出限達5～500ppm

真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa

數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術，快速分析，高計數(shù)率，測試更加準確

測試臺：360°電動旋轉式

操作環(huán)境濕度：≤90%

操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

保護系統(tǒng)：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成

樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動，測試更穩(wěn)定

數(shù)字多道技術：計數(shù)率>50kcps，有效計數(shù)率高至500kcps

外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG