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鍍層厚度測試儀的測量原理和產品優勢介紹
閱讀：748 發布時間：2023-1-12
鍍層厚度測試儀的測量原理：
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導電涂蓋層的厚度。
磁性法（F型測頭）
當測頭與涂蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性涂蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出涂蓋層的厚度。
渦流法（N型測頭）
利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測頭與涂蓋層接觸時，金屬基體上產生電渦流，并對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出涂蓋層的厚度。
鍍層厚度測試儀的產品優勢：
1、可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。
2、操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性，快速出檢測結果。
3、可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
4、鍍層檢測，鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高。
5、激光定位和自動多點測量功能。
6、可檢測固體、粉末狀態材料。
7、運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低。
鍍層厚度測試儀的產品特點：
觸控彩色液晶屏，微電腦控制，自動分組統計值、平均值。
旋轉角度位移實時顯示，保證測量準確回位。
滿足玻璃瓶底厚和壁厚兩種測試方式。
測量平臺新增托瓶裝置支持上下調節，讓測試輕松便捷。
系統自帶微型打印，上位機數據無限保存。
專業電腦測試軟件，曲線圖顯示，數據保存，EXCEL統計，打印A4試驗報告。
軟件用戶分級權限管理，數據統計及審計功能滿足行業要求。